长期从事宽禁带GaN基半导体的研究，已发表学术论文120余篇，被引用3000多次。已授权发明专利27项，包括4项美国专利；牵头制定的热特性瞬态测试方法国家标准已发布实施，并已牵头完成1项二次离子质谱国际标准的制定；应邀在国内外学术会议做邀请报告30余次。目前是国际标准化委员会ISO/TC201/SC6委员；教育部电气类专业教学指导委员会委员；全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会委员。先后荣获中国电子学会优秀科技工作者，天津市有突出贡献专家、中科院引进杰出技术人才等荣誉称号。