毕业于浙江大学环境工程专业。曾在日立、CMIC、日产化学担任分析工程师，从事材料领域的分析研究10年以上，熟悉化学分析、材料分析、表面分析、失效分析等多种分析应用。在TOF-SIMS系统上有7年+的工作经历，在半导体器件、高分子材料、电池材料以及其他有机无机材料方有着丰富的分析经验。现担任IONTOF北京代表处高级应用工程师，针对用户需求提供相应的解决方案。