毕业于中国科学院上海技术物理研究所,理学博士,现任安东帕(中国)NSP/MSC产品经理。 主要从事基于扫描探针显微技术的半导体纳米光电子学研究,以及基于纳米操控技术的探测器器件结构构造。 在此基础上进入科学仪器行业,开展纳米表面分析仪器相关的技术及市场工作,先后担任主任工程师,培训师,技术服务主管,以及产品经理等,具有十年以上纳米表面表征的技术经验。

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