赛默飞世尔科技分子光谱
范燕 赛默飞 XPS 应用工程师 硕士 毕业于中国石油大学(北京),硕士期间实习于中国计量科学研究院,主要研究课题为典型碳材料的定性与定量分析,并参与利用XPS进行纳米金颗粒有机壳层厚度的计算及X射线光电子能谱(XPS)能量标尺标物(Au、Ag、Cu)的研制等课题。发表文献:《XPS分析过程中X射线照射对PET的影响》。 本科及硕士期间曾获得“国家励志奖学金”、“山东省省级优秀毕业生”、“一等奖学金”、“校级优秀学生”等荣誉。
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