HORIBA拉曼－AFM技术最新进展

随着扫描探针隧道显微镜（SPM）在上世纪80年代的出现，纳米尺度成像成为了可能。该技术使材料表面各种物理特性的表征方法得以快速持续发展，然而如何实现无标记的化学组分表征仍是一项挑战。

在过去的几十年里，光学光谱已经成为纳米材料分析的有力工具，它为分子结构和化学组分分析提供了独特的方法。不过，这种方法的空间分辨率在很大程度上受限于光学衍射极限，于是将两种技术联用成为一种极富吸引力的独特方法。本报告将会为大家介绍什么是扫描探针显微镜与拉曼？联用所面临的挑战？同区域成像和TERS以及HORIBA提供的解决方案等内容。