德国布鲁克纳米表面仪器部
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会议介绍
原子力显微镜（AFM）能够在纳米尺度上实现探针与样品间作用力的精确控制，同时通过结合其他电磁学测量技术如TUNA和KPFM等，极大地开拓了AFM力学测量技术的应用前景。在材料力学与电磁学表征、细胞病例分析、表面修饰、纳米压痕等得到广泛的关注。本次讲座我们将重点介绍采用Bruker AFM最新的力学测量技术以及应用。
本次讲座的内容主要包括：
1．介绍AFM纳米力学测量的基本原理
2. 介绍Bruker AFM中的各类力学新技术及其应用。
主办单位：德国布鲁克纳米表面仪器部
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