赛默飞世尔科技元素分析(Elemental)
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会议介绍
XPS作为表面分析的重要手段，不仅被广泛地应用于化学分析、材料开发应用研究、物理理论探讨等学术领域，在机械加工、印刷电路技术、镀膜材料工艺控制、纳米功能材料开发等工业领域，XPS都能提供全方位的解决方案。虽然XPS获得的谱图相对非常直观，然而在进行分峰拟合时会有很多疑虑和困惑，如，如何去除其他元素的干扰峰，怎样优化拟合参数等等。本次网络讲堂主要涉及一下几个方面：
XPS实验技术基础简介
Thermo Avantage软件中图谱的一般处理功能介绍
XPS图谱谱峰拟合方法介绍
复杂XPS图谱谱峰分析实例分享
主办单位：赛默飞世尔科技元素分析(Elemental)
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