XRF在小样品分析中的最新应用

11月12日 14:00

X射线荧光光谱作为一种元素分析方法，广泛应用于石化、地质、材料、水泥等行业。在XRF的常规应用中，为了得到具有代表性的结果，通常要求样品有一定的尺寸，并且组成是均匀一致的。但是ARL Perform'X系列高性能XRF光谱仪不仅可以满足常规样品的分析需求，而且可以对小样品或者不均匀样品进行分析，主要包括点分析（Spot）和面分析（Mapping）功能。点分析配合独有的UniQuant无标样分析软件，可以对直径1.5mm或者0.5mm的区域进行定性和定量分析，广泛应用于材料制备过程中所形成的缺陷的研究和处理。面分析能够创建一个高精度的元素分布图像，扫描的分辨率达到0.1mm，可用于与材料的均一性、缺陷、元素梯度分布相关的研究。