原子力显微镜简介及成像技巧——2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座第一讲

现代科学技术中，观察、测量、分析以及操纵纳米大小的物体是一个热门的研究领域。原子力显微镜的诞生为研究者们提供了分析和操作纳米世界的“眼”和“手”。因此，自诞生以来AFM已经被广泛用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，细胞表面形态观察，生物大分子的结构及性质，生物传感器，分子自组装结构等领域的监测等各类科研和生产工作。 本报告作为2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座的第一讲，主要讲解AFM的基本原理及成像模式，重点介绍成像参数调节的基本技巧，以及图像处理和分析的基本方法；让用户更好的了解AFM发展的进展及其应用，帮助AFM用户掌握获得高品质图像，获取实验数据的技巧；进一步为用户将来更深入的研究打下良好的基础。