1. Interleave扫描及抬起模式简介 2. 静电力显微镜,静电力与PFQNM联用
3. 表面电势测量,PFKPFM 4. 导电原子力,PFTUNA及扫描电容显微镜
上世纪九十年代以后,基于SPM的表征材料表面电学性质的技术得到了极大的发展。其主要手段有静电力显微镜,开尔文探针显微镜、导电原子力显微镜、隧穿原子力显微镜以及扫描电容显微镜等等。其应用领域包括纳米材料,纳米器件,生命科学,半导体器件,数据存储等领域。近年来,随着基于峰值力技术研发出一系列新的成像模式,使得纳米材料电学性能表征更定量、更准确。此报告将逐一介绍以上电学测量技术,还将展示电学性质测量与定量力学测量的结合,以及新的频率调制的开尔文探针显微镜。