谢景林（北京大学）

【报名地址】

http://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/xps/ 

【报告人介绍】

谢景林，北京大学化学学院，教授级高级工程师。北京大学分析测试中心副主任，全国微束分析标准化委员会表面化学分析分技术委员会委员。近5年发表SCI论文9篇。

【报告内容简介】

X射线光电子谱（XPS）被广泛应用于材料的表面分析样品中的元素（除氢和氦外）可以通过测量光电子谱确定的芯能级结合能比对表中给出的这些能量所对应的元素而辨识出来。有关这些元素化学状态的信息可由光电子和俄歇电子的特征电子的特征峰相对于参考态的化学位移推出。辨识化学态要求对化学位移的测量准确度达到0.1eV；因此应逐一进行测量，并需有足够准确的参考源。从而要求对XPS谱仪的结合能标尺进行校准，不确定度需达到0.2eV或更小。本报告介绍利用铜、银和金金属标准物质校准谱仪结合能标尺的方法。

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