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  • “半导体材料及器件研究与应用进展”主题网络研讨会特邀专家报告--《相变存储器及存储材料》
  • 仪器信息网2018/05/22 点击3519次
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    华东师范大学 成岩

     

    【报告人介绍】

    副研究员,2010年12月毕业于北京工业大学,师从国内著名电子显微学专家张泽院士,获物理学博士学位;同年加入中科院上海微系统所相变存储器课题组,历任副研究员(2013年)、信息功能材料国家重点实验室主任助理(2014年)、党支部书记(2014年),一直从事相变存储器及存储材料的相关研究;2017年12月加入华东师范大学电镜中心。


     

    【报告内容简介】

    Ovshinsky在1968年发表了第一篇关于非晶体相变的论文,首次描述了基于相变理论的存储器,材料由非晶体状态变成晶体,再变回非晶体的过程中,其非晶体和晶体状态呈现不同的光学特性和电阻特性,因此可以利用非晶态和晶态分别代表“0”和“1”来存储数据。相变存储器(Phase Change Random Access Memory, PCRAM)正是基于Ovshinsky效应的元件,其优点在于密度高,速度快,功耗小,成本低,可直接写入,与COMS工艺兼容等。相变存储材料作为PCRAM的存储介质,其性能优劣直接关系到器件特性的好坏,有很多材料都存在多晶态和非晶态,但并不是所有材料都适用于PCRAM,它必须要满足晶化时间短,熔点低,高低电阻率差异大,非晶态稳定性好,相变前后体积变化小等诸多要求。

     

     

    【报名地址】

    http://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/bdtcl/

             

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