代尔夫特理工大学--徐强

专家介绍：

博士，1999年毕业于清华材料与科学工程系，获学士学位；2002年硕士毕业于清华大学电镜中心；2007年博士毕业于荷兰国家电镜实验中⼼。2007年到2009年间，在荷兰Delft大学做博士后，2009年到2011年间在比利时EMAT国家电镜中心做博士后。⾃2012年起，回到Delft大学做从事原位电子显微镜学研究，将研制的电镜原位样品系统开发成标准产品，并出任   DENSsolutions公司副总裁及应用总监，兼职浙江大学客座研究员。致力于全球市场原位技术的产品开发和相关原位显微学的研究推⼴。    

报告简介：

透射电子显微技术（TEM）在材料形貌、结构的表征上发挥着重大的作用，是研究材料不可或缺的重要工具之一。传统电子显微学的应用主要局限在表征材料的微观结构、成分。原位透射电⼦子显微技术的发展使得可以在声、光、电、热、磁以及复杂的化学环境下，实时地动态地记录材料样品与环境的相互作用下微观显微结构的变化。这一技术的应用可以让我们在透射电镜里，直接应用材料工艺的处理、原子结构变化的记录、物理化学性质测量、以及环境服役性能的评价的多种关联性的表征。   从而在实验的基础上直观的展示材料的工艺-结构-性质-性能的相关特性，帮助指导设计合成、优化微结构调控，促进新物质的探索和深层次物质结构研究，为新能源、新材料，和化工反应等领域的具体问题提供了新的方法与思路。⽬目前国际上越来越多的研究者已经利⽤用实时原位电⼦子显   微学表征在⾃自⾝身领域的研究中获得了突破，本次报告将重点分享在材料和化学领域最新的应用成果。    

免费参会：

https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/iCEM2019/

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