iCEM 2017邀请报告:

扫描电镜在岩石矿物分析中的应用

原园 博士

中国科学院地质与地球物理研究所

　　报告摘要:

　　扫描电镜中的高能入射电子束轰击样品表面，从样品中激发出各种有用的信息，包括二次电子、背散射电子、X 射线等不同的信号，这些信号分别携带样品的形貌和成分等信息。

　　利用扫描电镜对新鲜断面样品或是氩离子抛光样品进行二维扫描，可以得到样品中不同矿物的结构形貌和元素成分等信息，进而确定矿物类型；结合分析软件可以对矿物的二维分布、含量、颗粒形态等信息进行提取。扫描电镜和聚焦离子束结合，对样品进行切割及三维重构，可以分析矿物的三维空间分布特征。

　　报告人简介:

　　原园，博士，毕业于中国石油大学（北京）非常规天然气研究院，现任职于中国科学院地质与地球物理研究所微纳结构成像实验室。

　　报告时间：2017年6月22日下午

　　立即免费报名：http://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/iCEM2017/

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