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  • 泰思肯:All In One—材料显微分析的多方位拓展
  • 仪器信息网2017/06/02 点击1906次
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    泰思肯:All In One—材料显微分析的多方位拓展

    李景 高级应用工程师

    TESCAN CHINA

      报告摘要:

      科研和分析工作需要全面、深入的了解样品,确定样品二维、三维的成分、价态、结构、取向、应力等,这就对信息采集提出了很高的要求,以往需要通过不同的分析仪器分别采集,这不能保证空间位置的准确对应,仪器工作条件的不同也很容易引入外界污染,此外时间间隔也可能造成样品变化。为此,TESCAN发展了以扫描电镜为基础的综合分析平台,尽可能同时采集同一位置的全面信息,很好的解决了以往的难题。

      报告人简介:

      材料科学与工程专业硕士,毕业于北京科技大学,2015年加入TESCAN,担任高级应用工程师。

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