[报告]XPS在先进功能材料中的应用
报告时间: 2021-06-03 14:30
第五届表面分析技术应用论坛暨X射线光电子能谱(XPS)国家标准宣贯会
2021年06月03日 08:30
孙文武
赛默飞世尔科技(中国)有限公司
孙文武 硕士,现担任赛默飞XPS应用专家一职。毕业于北京化工大学材料学院,研究生期间从事新型聚合物研究开发工作,利用XPS对制备的相关聚合物材料进行表征分析,并发表多篇文章和专利,毕业论文获得北京化工大学优秀硕士论文。在赛默飞担任XPS应用专家多年,拥有丰富的电子能谱系统操作、维护和光电子能谱数据处理经验,主要负责XPS、EM、XRF等技术的行业性应用开发工作,以及为客户提供现场技术支持及应用解决方案。
随着材料科学、化学化工、半导体、能源、微电子、信息产业及环境领域等高新技术的迅猛发展,使得具备各种功能的先进材料层出不穷。这些先进功能往往都具有复杂的结构,如何分析评估这些材料是科研人员关注的重点。XPS作为一种成熟的表面分析技术,通常被用于表征分析这些材料。本报告将展示XPS是如何应用到这些先进功能材料的表征分析中,并进一步助力科研工作。
赛默飞世尔科技元素分析(Elemental)
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