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[报告]FIB 3.0技术在显微学领域的应用

报告时间: 2021-06-25 15:30

第七届 电子显微学网络会议(iCEM 2021)

2021年06月22日 09:00

曹丽洁 卡尔蔡司(上海)管理有限公司

曹丽洁,蔡司中国显微镜资深应用专家(SEM/Laser+FIB),德国波鸿鲁尔大学博士,主要研究方向为金属材料力学性能及微观组织表征。具有丰富的电镜技术应用经验,曾以第一作者在金属材料顶级期刊Acta Materialia,Scripta Materialia,MSEA等学术期刊发表多篇学术论文。

聚焦离子束扫描电镜(FIB-SEM)具有强大的加工和成像功能,广泛应用于微纳加工领域。蔡司于2020年初发布了飞秒激光-聚焦离子束加工平台FIB3.0,在聚焦离子束的基础上增加了飞秒激光用于加工,打破了FIB在加工效率和加工尺寸方面的限制,使得大尺寸高精度快速加工成为可能。同时,结合蔡司光学显微镜、X射线显微镜等,可实现FIB3.0在更多领域的拓展和联用。

卡尔蔡司(上海)管理有限公司

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