[报告]布鲁克3D光学仪器在半导体封测工艺上的应用
报告时间: 2022-04-28 11:00
半导体封装检测技术与应用 主题网络研讨会
2022年04月28日 09:30
王书瑞
布鲁克（北京）科技有限公司
2004年毕业于新加坡国立大学， 电子计算机工程系， 工学硕士。 2006年加入布鲁克（新加坡）销售部门， 任高级应用工程师。 2016年加入Park公司（新加坡）， 任高级应用科学家。 2018年加入Bruker（ 中国）售后部门。 任高级应用及系统工程师。16年的AFM以及3D光学轮廓仪技术经验
1. 3D光学轮廓仪的原理
2. 布鲁克3D光学轮廓仪
3. 半导体封测工艺
4. 3D光学轮廓仪在封测工艺上的应用
布鲁克纳米表面仪器部(Bruker Nano Surfaces)
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