单角度动态光散射技术已经广泛应用于纳米颗粒的粒径表征，但其粒径分辨率不高、粒径结果具有角度依赖性等因素，尤其使得粒径宽分布的纳米颗粒的表征受到了极大的挑战。多角度动态光散射的出现，较大地提升了粒径结果的分辨率，并且其粒径结果的角度依赖性问题也得到了很好的解决，从而极大的提升了粒径宽分布样品粒径表征结果的准确性。纳米颗粒跟踪分析技术因其单颗粒成像跟踪分析原理，具有更高的粒径分辨率，但由于采集颗粒数量有限，往往对于粒径宽分布的样品，其粒径结果重复性不好。本报告提出，在纳米产品的研发阶段，综合多角度动态光散射技术以及纳米颗粒跟踪分析技术，可以更加精确表征纳米产品的粒径分布，并为产品的质量控制环节打下坚实的基础。