[报告]原子力显微镜样品制备方法介绍
报告时间: 2022-09-07 14:30
表面分析技术与应用
2022年09月07日 09:00
潘涛
Park原子力显微镜
资深AFM应用工程师,在AFM领域工作5年,具有丰富的AFM的样品测试经验。长期从事测量力学性能的纳米尺度表征,加入帕克(Park)公司后,主要从事原子力显微镜在计量领域的相关应用。
原子力显微镜AFM是在纳米尺度上表征样品形貌的最主要的方法之一,基于样品形貌同时还可选择不同模块研究其电学,磁学,热学,电化学,力学等特性。然而样品制备的合适与否决定了样品形貌及其他特性的准确性。本讲座主要介绍不同类型的样品制备过程及注意点,包括粉末,纤维,电学模块样品等等。样品的制备是所有实验的基础,尤其是AFM样品的形貌测试,不同类型,尺寸及状态的样品的制备好坏决定测试结果是否能真实表征样品的特征结构和尺寸,排除由于样品制备不当导致的样品扭曲,虚像或图像失真。对于同一类型样品,不同制备样品的方式也比较了其优缺点及适用范围。希望讲座可以给大家在实际样品制备带来一些指引。
Park帕克原子力显微镜
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