在二维材料的研究中，原子力显微镜（AFM）常用于测量片层的厚度，或者进行基础的形貌表征。其实AFM的作用远不止于此。先进的AFM能够常规化地解析二维材料的晶格或超晶格结构，而AFM丰富的电学和力学模式可以测量导电性、功函数、杨氏模量等物理性质。报告将会介绍AFM在二维材料高分辨成像和物性测试中的应用。案例不仅包含石墨烯和过渡金属硫化物，也涉及COF、MOF、小分子所构成的有机二维晶体，以及对空气敏感的二维材料。除了表征，AFM还是一个微纳加工工具，通过力和电场调控二维材料的形态和性质。