二维材料因其特殊的结构表现出了特殊的电学、光学、力学性质，成为了科学研究和电子器件应用的热门材料。AFM作为表征纳米材料的常用仪器，对于二维材料的表征有哪些方面？如何利用并分析AFM的测试结果？ 本报告主要介绍用原子力显微镜对二维材料的厚度、结构及其力学、电磁学性质的表征，并对其表征范围和影响因素进行探讨。