[报告]TESCAN 集成和旋进辅助的分析型 4D-STEM在材料中的应用
报告时间: 2023-06-28 16:00
第九届 电子显微学网络会议(iCEM 2023)
2023年06月26日 13:30
柯盼
TESCAN公司
柯盼是TESCAN透射电镜产品经理。2016年硕士毕业于武汉大学材料物理与化学专业,主要研究方向是透射电子显微学在材料中的应用。2016年加入TESCAN,负责SEM/FIB等产品推广及销售,曾经获得2022年TESCAN全球最佳销售奖、最佳客户关系奖。2022年11月TESCAN发布新品首款4D-STEM扫描透射电子显微镜TENSOR,柯经理担负起TENSOR的推广及销售工作。
新材料的研发以及越来越小的半导体器件的质量评估,在很大程度上依赖于纳米级的相和结构表征。而4D-STEM方法已成为一种强大的技术,能够在纳米级上解析和表征多晶材料中晶相和晶粒取向。TESCAN提出一种新的方法,集成所有必要的硬件与超高的系统自动化,以最便捷的方式获取和处理4D-STEM数据,可实现实时数据处理和结果可视化。
泰思肯(中国)有限公司
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