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[报告] 拓展电镜的检测领域——微纳尺度里高端元素分析及表征技术

报告时间: 2024-04-29 15:10

《场发射扫描电镜的理论与实践》新书发布会

2024年04月29日 14:00

陈剑锋 布鲁克(北京)科技有限公司

2003年毕业于中科院长春应化所,主要研究方向是高分辨电子显微镜在高分子结晶中的应用,毕业后加入FEI,负责SEM/SDB的应用、培训以及市场等推广工作。2011年加入安捷伦公司负责SEM的市场和应用工作,2018年在赛默飞负责SEM的应用工作。2021年加入布鲁克,负责EDS,、EBSD、 Micro-XRF等产品的技术支持工作,对电子显微镜的相关应用具有多年的实操经验。

随着材料研究的深入,人们不仅对电镜的要求也越来越高,对元素和结构分析的要求也越来越高,布鲁克的平插能谱仪和同轴TKD技术以其独特的设计和技术使纳米材料的元素与晶体结构分析更方便快捷,使广大材料工作者把更多的精力聚焦到自己的研究领域。

布鲁克电子显微纳米分析仪器部

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