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[报告]JEM-ARM200F的性能特点及透射电镜原位观察

报告时间: 2024-06-25 14:30

第十届电子显微学网络会议(iCEM 2024)

2024年06月25日 09:00

陈桐民 捷欧路(北京)科贸有限公司

2017-2022年在北陆先端科学技术大学院大学攻读硕士博士学位。电镜师从日本电镜专家大岛義文教授,硕士阶段开始从事透射电镜技术的应用和研究,对莫尔条纹法和几何相位分析(GPA)研究晶体结构形变,TEM原位实验的样品杆研发,二维材料结构表征等有丰富的经验。2022年博士毕业后留校任博士后。2023年加入捷欧路(北京)科贸有限公司任透射电镜应用工程师,对锂电池材料,纳米颗粒,陶瓷材料,催化剂,等材料有丰富的表征经验。现任捷欧路(北京)市场部售前技术支持,产品经理,主要从事透射电子显微镜的推广和技术支持。

主要讲解透射电镜JEM-ARM200F的仪器性能特点,包括冷场枪、超级EDS能谱和最新的SAAF探测器等最新技术。另外介绍透射电镜下的原位实验观察技术。

日本电子株式会社(JEOL)

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