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[报告]基于原位XPS-Raman的表面分析联用技术和应用

报告时间: 2024-08-05 10:30

第十一届表面分析技术应用论坛暨表面化学分析国家标准宣贯会 网络研讨会

2024年08月05日 09:00

葛青亲 赛默飞世尔科技(中国)有限公司

博士毕业于复旦大学物理系凝聚态物理专业。博士期间从事复杂量子材料的光电子能谱研究。使用基于同步辐射与激光的电子能谱系统,研究对象涵盖高温超导,铁基超导,Mott绝缘体等关联体系,及人工异质界面和有机功能分子材料等低维体系的电子结构研究。拥有丰富的电子能谱系统操作、搭建和光电子能谱数据处理经验,博士期间多次赴美国、日本、德国、意大利等同步辐射中心进行交流合作,在Nature Physics、Physical Review X、Science等国际一流杂志发表论文10余篇。毕业后加入赛默飞世尔科技(中国)有限公司,现担任应用经理一职,负责XPS、EDS、EM等技术的行业性应用开发。

XPS作为一种高效的表面分析手段,因其元素化学态敏感性和表面敏感的特性,可以很好地揭示材料的表面和界面信息。同时,随着表面分析技术拓展性的逐渐增强,结合其他分析技术,可以提供更丰富的样品信息。本报告主要介绍和分享基于XPS-Raman联用分析技术的应用和解决方案,并可进一步联合SEM、REELS、ISS等技术在聚合物、碳材料、BN和MoS2等二维材料表征中提供全方位的多功能性应用。

赛默飞世尔科技电子显微镜

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