[报告]TESCAN 电镜在材料领域的最新应用
报告时间: 2024-06-26 10:00
第十届电子显微学网络会议(iCEM 2024)
2024年06月25日 09:00
李景
泰思肯(中国)有限公司
李景,毕业于北京科技大学材料科学与工程专业, TESCAN高级应用工程师,长期专注于扫描电镜在材料领域的研究,具有丰富的扫描电镜以及相关联用仪器(TOF-SIMS、Raman等)的操作经验。
随着科研的深入及学科的交叉,常规扫描电镜系统无法满足科研工作者日益增高的分析需求。借助其它分析系统所得的数据,和电镜系统的数据往往非同时同位。TESCAN提出了All-In-One的综合解决方案,在常规的FIB-SEM系统上,增加Raman Spectrum Image以及TOF-SIMS和AFM等多种表征系统,可以极大的提升扫描电镜系统的原位综合分析能力,做到所见即所得。
泰思肯(中国)有限公司
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