微观丈量 膜力无限——马尔文帕纳科 X 射线分析技术应用于薄膜测量
薄膜，通常是指形成于基底之上、厚度在一微米或几微米以下的固态材料。薄膜材料广泛应用于不同的工业领域，譬如半导体、光学器件、汽车、新能源等诸多行业。沉积工艺决定了薄膜的成分和结构，最终影响薄膜的物性。马尔文帕纳科的X射线衍射（XRD）和X射线荧光光谱（XRF）分析设备，可以对不同类型的薄膜材料进行表征，帮助用户获取薄膜成分、厚度、微结构、取向等关键信息，帮助研究者优化或控制工艺参数，以改善薄膜材料的性能。 点击图片查看活动专题
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