HORIBA 纳米粒度仪SZ-100 粒度测量

纳米颗粒分析仪是一款用于纳米粒子粒径测量的设备,它可以一次测量同时实现对纳米粒子三项参数的表征:粒径、Zeta电位和分子量。该设备主要应用于化妆品、制药、食品等行业的粒径测量。

3455 2015-07-15
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