赛默飞CSR(大体积进样技术)和NCI（负离子化学电离技术）在电子电器产品有害化合物分析中的应用-赛默飞色谱与质谱-仪器信息网3i讲堂

所属会议:赛默飞CSR(大体积进样技术)和NCI（负离子化学电离技术）在电子电器产品有害化合物分析中的应用

赛默飞CSR(大体积进样技术)和NCI（负离子化学电离技术）在电子电器产品有害化合物分析中的应用

近年来，电子电器产品在出口和内销部分都越来越受到严格的监管，检测要求越来越严格，赛默飞独有的CSR(大体积进样专利)能大幅度提高灵敏度，如PAHs和PBB，PBDE中的一些化合物能获得更好的灵敏度，减少前处理的难度。NCI（负离子化学电离）对一些电负性化合物有很好的响应，能极大减低干扰，同时赛默飞NCI和PCI能同时扫描获得正谱和负谱，有更高的应用价值。