AFM的力学测量技术
原子力显微镜（AFM）能够在纳米尺度上实现探针与样品间作用力的精确控制，同时通过结合其他电磁学测量技术如TUNA和KPFM等，极大地开拓了AFM力学测量技术的应用前景。在材料力学与电磁学表征、细胞病例分析、表面修饰、纳米压痕等得到广泛的关注。本次讲座我们将重点介绍采用Bruker AFM最新的力学测量技术以及应用。 本次讲座的内容主要包括： 1．介绍AFM纳米力学测量的基本原理 2. 介绍Bruker AFM中的各类力学新技术及其应用。
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2017-05-19
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