蔡司全新双束FIB-SEM：高通量纳米加工与3D分析平台-卡尔蔡司(上海)管理有限公司-仪器信息网3i讲堂

蔡司全新双束FIB-SEM：高通量纳米加工与3D分析平台

本次研讨会将会介绍蔡司最新发布的双束FIB-SEM系统，Crossbeam 550以及其在材料科学领域的应用。通过全新设计的Capella+离子镜筒，结合蔡司专利的Gemini电子镜筒，使其在高分辨成像，制样，高通量微纳加工以及3D重构等应用上具有极大的优势。结合Crossbeam 550 的FIB的加工能力和SEM的成像能力，讲座将会详细介绍其在材料，半导体，纳米材料，甚至生物等各个领域的应用。