镀层的测厚方法实战经验分享及案例解析-母起明（日立分析仪器（上海）有限公司）
讲座内容主要介绍几种主流的膜厚测量方式，从多角度介绍不同测厚方法的优劣，包括电解法（库仑法）、金相法、X射线荧光法等。镀层XRF分析仪是一个有价值的电镀过程控制工具。它快速，易于使用和准确，并允许您监控和调整您的电镀产线，以确保高质量。
4248
2019-09-23
投诉
评论（0）
暂无数据
厂商其他视频
×
恐怖血腥
涉黄涉政
色情低俗
其他
×