XPS表面分析联用技术和应用——REELS、UPS、Raman
XPS作为一种高效的表面分析手段,因其元素化学态敏感性和表面敏感的特性,可以很好地揭示材料的表面和界面信息。同时,随着表面分析技术拓展性的逐渐增强,结合其他分析技术,如UPS、REELS、ISS和Raman联用等等,可以提供更丰富的样品信息。本报告主要介绍和分享XPS与REELS、UPS和Raman等分析技术联用,在聚合物、冰、OLED和石墨烯等材料的表征中提供全方位的多功能性应用。
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