X射线衍射（散射）技术在材料表征中的进展
实验室中单色化衍射技术，可以极大地提高粉末衍射的信噪比和峰背比，从而提高微量物相的检测灵敏度。 X射线全散射技术可以用于结晶材料和非晶材料的结构分析，全面了解原子周围的近程状况。 X射线小角散射则是分析纳米材料的有力工具。 本报告介绍了马尔文帕納科公司在上述几方面的新进展。
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2020-07-24
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