半导体纳米材料原子尺度结构性能关系的透射电子显微学研究--仪器信息网3i讲堂

半导体纳米材料原子尺度结构性能关系的透射电子显微学研究

结合包括电子全息技术在内的多种透射电镜表征技术第一次获取了纳米尺度单个量子点及单根核壳结构纳米线电荷分布情况的直接实验证据；获得多型体同质异构结对电荷进行裁剪的信息及多型体原子尺度自发极化强度及其受界面应力影响；获得纳米晶受温度调控的生长和升华机制。为相关光电器件物理性质的调控提供了坚实的结构基础。