单细胞飞行时间二次离子质谱成像及应用--仪器信息网3i讲堂

单细胞飞行时间二次离子质谱成像及应用

飞行时间二次离子质谱（ToF-SIMS）是迄今为止能在纳米尺度实现固体样品原位化学成像的为数不多的技术之一，横向空间分辨率达80-100纳米。配合气体团簇离子剥离源，ToF-SIMS还可进行3D成像，纵向分辨率达2-5纳米。近年来本课题发展基于ToF-SIMS的单细胞成像新方法，原位研究了金属抗肿瘤药物的细胞摄入和亚细胞分布。进一步地，结合基因编辑和生物正交技术，实现了单细胞水平上金属抗肿瘤药物和生物靶分子相互识别和相互作用的原位研究。