冷冻电镜观察辐照敏感电池材料与界面

透射电子显微镜(TEM)是研究材料微观结构的重要工具。然而,大部分电池材料不耐电子辐照,很难采用TEM观察本征微观结构,尤其是金属锂和固体电解质SEI膜。了解这些材料的结构属性对于材料结构设计和改性至关重要。受结构生物领域的启发,报告人最先引入冷冻电镜技术用于观察辐照敏感电池材料及其界面,取得了一系列重要研究成果。

268 2021-06-30
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