More Clearer, More Convenient—— Development of Atomic Force Microscope Technology<br>更清晰、更便捷—

More Clearer, More Convenient—— Development of Atomic Force Microscope Technology<br>更清晰、更便捷——原子力显微镜技术的发展

SPM自上世纪八十年代被发明以来，极大丰富了人们对材料表面各种属性的观察分析能力。但随着研究的深入，纳米尺度下材料的新结构、新性能被广泛发现，无论是科研还是检测，都迫切地需要原子力显微镜技术的更新。一方面，基本性能尤其是图像分辨率需要进一步提高；另一方面，提高操作性以保证数据的稳定性和重复性。岛津跟踪科研和应用点额需要，不断推出新产品和新技术，服务于客户的实际需要。