厚积薄发,彰显卓立匠心——FLIM荧光寿命成像系统产品介绍+真机展示

光学显微技术可以将微米甚至纳米量级的微小物质及结构展现在我们面前,是我们打开微观世界大门,观察细胞组织和生物微环境的钥匙。若成像基于荧光发光团的荧光强度进行数据分析,则可称之为荧光强度显微技术。通过显微镜我们可以获得不同位置下荧光强度图像,但受荧光团浓度的影响,其测量精度和定量分析能力都不理想。显微荧光寿命成像(FLIM:Fluorescence-Lifetime Imaging Microscopy)是在光学显微镜下样品不同像素点均带有荧光寿命数据的一幅图像,具有对生物大分子结构、动力学信息和分子环境等进行高分辨高精度测量的能力,目前被广泛地应用于生物学研究及临床诊断,在未来会更广泛应用于光电半导体载流子寿命测量等领域。本报告主要介绍卓立汉光自主研发的显微荧光寿命成像,该平台基于时域测量方法,使用皮秒脉冲激光器配合快速响应探测器及时间相关单光子计数卡获取寿命,显微系统配合高精度电动位移台对样品进行扫描,最终得到样品表面用发光寿命表的影像。

243 2021-12-28
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