纳米材料粒径表征难点及HORIBA解决方案-HORIBA（中国）-仪器信息网3i讲堂

纳米材料粒径表征难点及HORIBA解决方案

粒径分析对产品的研究开发和质量控制发挥着越来越重要的作用，如何根据需求和应用场景选择最合适的测量工具显得尤为重要。高分辨率、高精确度、高浓度测量是纳米材料粒径表征的几大难点，高速离心沉降粒度分析技术可以同时克服这些问题。ParticaCENTRIFUGECN-300是HORIBA公司新近研发的一款离心式粒度分析仪，主要用于纳米材料的粒径表征，在电子、半导体、能源以及新材料领域具有广阔的应用前景。