基于叠层电子衍射的断层扫描三维成像技术（Electron ptychographic computed tomography）
结合高速相机4DSTEM衍射大数据，基于计算机算法的Ptychography “无透镜”叠层电子衍射技术不受磁透镜固有像差的限制，可以获得超高分辨率，高相位衬度，轻元素敏感，低噪声，低辐照损伤的二维到三维原子结构信息，有望应用于含有轻元素、辐照极易损伤材料的高分辨结构表征，在能源存储材料和结构生物大分子结构解析领域有潜在广泛应用前景。
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2022-08-08
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