双光子-受激发射损耗（STED）复合显微成像技术集成及应用--仪器信息网3i讲堂

双光子-受激发射损耗（STED）复合显微成像技术集成及应用

双光子显微镜具有较大的成像深度，但成像分辨率较低，无法观察神经突触等百纳米以内的结构细节；受激发射损耗(STED)超分辨显微镜可以达到几十纳米分辨率，但成像深度只有几十微米，无法观察深层神经组织。本报告介绍了STED成像关键技术、双光子-受激发射损耗（STED）复合显微成像技术集成及仪器研制情况，仪器集成了双光子成像和STED成像等功能，介绍了双光子-STED成像在难治性癫痫等神经疾病的应用研究情况。