接触式扫描隧道显微能谱方法的发展与应用--仪器信息网3i讲堂

接触式扫描隧道显微能谱方法的发展与应用

扫描隧道显微镜（STM）和能谱（STS）是纳米领域十分重要的实验手段，对于我们理解材料在原子尺度的结构和电子学性质有重要意义。然而，传统的STM和STS对实验条件要求较高，一般都要在超高真空和低温下对大面积导电的样品进行研究，而对于工作状态下的电子学器件往往无能为力。我们最近发展了基于传统STS和导电原子力显微镜的接触式扫描隧道能谱方法（CMSTS），并利用它在一些二维材料器件中获得了具有纳米级空间分辨的能带结构，对我们理解器件和材料的性质提供了重要信息。