二维器件的扫描探针研究--仪器信息网3i讲堂

二维器件的扫描探针研究

基于二维材料的器件近来得到了广泛的关注。各种二维电子学和光电子器件、异质结器件等，展示出了丰富的功能。另一方面，通过精确控制两个单层二维材料之间的转角，人们也实现了诸如超导态、铁电态等奇异的物性。而这些功能和物性都是由器件的微观电子结构所决定的，对其进行测量是理解它们宏观性质的重要依据。本次报告将介绍我们近期在该领域所做的一些工作。主要包括利用新型接触式扫描隧道能谱方法对二维半导体器件能带结构的原位测量，例如二维异质结的能带，铁电栅极强电场调控下的能带，二维器件边界态的直接测量；以及利用传统扫描探针方法对二维转角体系电子结构的测量，例如小转角WSe2的Moire电子态，小转角hBN的铁电态等。