基于原位XPS-Raman的表面分析联用技术和应用
XPS作为一种高效的表面分析手段，因其元素化学态敏感性和表面敏感的特性，可以很好地揭示材料的表面和界面信息。同时，随着表面分析技术拓展性的逐渐增强，结合其他分析技术，可以提供更丰富的样品信息。本报告主要介绍和分享基于XPS-Raman联用分析技术的应用和解决方案，并可进一步联合SEM、REELS、ISS等技术在聚合物、碳材料、BN和MoS2等二维材料表征中提供全方位的多功能性应用。
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2024-08-27
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