利用扫描电子显微镜（SEM）短时间内进行品质管理·异物分析

讲师：朱明芬

剩余时间：

¥ 19.9

课程介绍
课程目录
课程评价

课程节数：1节
课程分类： 光学仪器及设备 | 电镜及光学仪器 | 仪器技术与原理 |

讲师介绍

朱明芬应用工程师

应用工程师

共1门课程

日本电子扫描电子显微镜应用工程师朱明芬，从事扫描电子显微镜应用工作近十年，经验丰富，熟悉各类钨灯丝扫描电镜的原理及应用，多次赴日参加培训和研讨会，熟悉多个行业对扫描电子显微镜的应用需求，为用户提供大量的仪器应用于各种材料观察和失效分析的解决方案。

随着科学技术的不断进步,扫描电子显微镜(SEM)在各方面有了较大的改进,分辨率越来越高,功能越来越齐全。数字化扫描电子显微镜的出现,使扫描电子显微镜完全由计算机控制, 操作更加简单、方便。扫描电子显微镜主要用于各种材料的微观分析和成分分析,已经成为材料科学、生命科学和各生产部门质量控制中不可缺少的工具之一。

扫描电子显微镜与其它近代测试技术相结合用来研究原材料的矿物结构形态与材料生产工艺、性能的关系；研究材料的微观结构、物相组成与其性能的关系；寻找改进材质的途径和研制预见性的新材料，进行品质管理，异物分析，失效分析等工作。