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非线性最小二乘法在复杂XPS谱图分析中的应用
讲师：李焕勇
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讲师介绍
XPS是表征材料化学态的重要工具，是表面分析的常用技术，对于比较简单的谱图，直接采用合适的高斯/洛仑兹方量即可得到很好的拟合结果；对于过渡金属或者镧系元，只要知道峰型不对称的特点，拟合也不是难事。比较麻烦的一是存在重叠的谱图，比如常见的（Ca 2p和Mg LMM，Fe 2p和Co LMM,）；二是峰型比较复杂的谱图比如（Ce(IV)和Ce(III)，Cu LMM，Ti 2p）等，对于这些，NLS (Non-Linear Least-Squares Fit)非线性最小二乘法优势明显。这个课程将介绍NLS在复杂谱图分析中的应用。
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