介电弛谱仪

主要特点：DS6000系列DETA提供了非常具有工作弹性的高性能热介电阻抗性能分析仪，其性能包括以下方面： - 独特的旋转测量头设计 - 快速有效的冷却效果 - 用于液体的杯状电极 - 可以进行湿度对介电性能影响的DETA试验 - 高性价比 - 高度的工作弹性 - 可达到极限低温环境 - 简单易用的软件操作界面

高温介电温谱其它物性测试仪一、概述：高低温介电常数适用于各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质，通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究科研机关、高校、工厂等地方。它是在特殊环境下，测量介质在该环境温度下的介电常数。二、技术指标：1、电极直径：6mm 数量：4个 2、电机屏蔽：内径--304不锈钢 外径--聚四氟3、测试电极：四通道，可以同时测试4路试样4、切换频率：可以自由设定试样切换时间5、试验方式：手动模式 自动模式6、试验数据：可导出测试原始数据，同时可以输出测试曲线及打印试验报告7、测量频率：以实际电桥为准8、温度范围：-180°~500°9、加温速率：0.5℃--2.5℃/min10、数 据 线：铜镀银，低温屏蔽线10、机 箱：Q235钢板表面高温喷塑而成11、仪器供电：AC:220V 50Hz 功率：2KW12、测试电桥：安捷伦429413、试验环境：请不要在多尘、多震动、日光直晒、有腐蚀气体下使用。仪器使用时应远离强电磁场，以免干扰实验结果。三、整机组成：1、加温装置：采用陶瓷纤维外旦内部嵌入加热丝组成，有着良好地保温隔热和升温性能2、低温装置：采用液氮低温技术，使实验舱温度降到-190°.3、控制系统：可实现对温控升温、降温控制，同时对4路试样进行切换，实时测控测试数据4、LCR电桥：20HZ-2MHZ

Huace450P高低温介电温谱仪由华测仪器多位工程师多年开发，其具有不错的测试功能，设备测试频率可达30MHz，采用直接联接阻抗分析仪以减少测试导线的影响，同时电极加热采用直流电极加热方式，减少电网谐波对测量仪表的干扰。同时测试功能上也可扩展击穿测试、TSDC等测量功能。它能够在不同测量条件和测量模式下进行连续和高速的测量！测量功能与技术参数仪器具备的测试功能DHM 动态电滞回线测量CVM CV测量LM 漏电流测量FM 疲劳测试PM 脉冲测量PYM 热释电测量★DTS 介电温谱测量★RT 电阻测量★PZM 压电测量CHM 静态电滞回线测量IM 印迹测量RM 保持力测量BDM 击穿测试★TSDC 热刺激电流测量ECM 电卡测试★POM 油浴极化★ 注 : 标★号为华测生产的铁电分析仪增加的软件测量功能！ Huace FE系列铁电测试系统在±500V内置电压下，电滞回线测试频率可高达500KHz；此系统包含HuacePro基本铁电管理测试软件。此外还可外部扩展电压到4kV、10kV、20kV，Huace FE主机在不改变样品连接的情况下可执行电滞回线，脉冲，漏电流，IV、CV、击穿测试，也可加载选件实现压电、热释电、TSDC和电卡、阻抗分析、电阻测量等特性测试功能。内置完整的专用工控计算机主机、测试版路、运算放大器、数据处理单元等，包括专用工控计算机主板、CPU(i5 及以上)、RAM(8G 及以上)、固态硬盘(250G 及以上)、网卡、USB 接口、DVD 光驱、 VGA 接口、预装 Windows 7 操作系统、铁电分析仪测试软件等。每一款仪器都配备精度高的电阻、电容测试模块。可实现仪器的自行校准，让测试数据完善！优点1高频率的测量提升了内置放大器的输出频率、采用FPGA高速采集，实现电滞回线可达500KHz的测试频率。可达40M的高速采集。同时内置的高速信号发生装置，硬件支持脉冲100ns的波形触发，极大提升了脉冲测试速度。优点2多项测量功能比现有的铁电分析仪，增加了TSDC、热释电、电卡、阻抗、电阻、击穿等测量功能。预留4通道高速接口，方便扩展高低温测试环境。优点3质量管控严格做好每一款产品质量把控，从原器件采购、到生产过程的质量控制,到产成品计量检测,严格质量把控,实现生产合格的科研仪器。优点4售后服务体系 整机保修三年，7X24小时在线服务。预装远程服务软件，实现远程升级、维护等。

FWJD-600型粉末高温介电温谱仪关键词：介电常数，粉末，液体，块体三个支持：货到验收后付款，支持免费上门培训，支持来样测试随着固体粉末在化工、航天、医药、食品、塑料制品等行业越来越广泛的应用，必然需要更多、更精确的以工艺过程控制、产品混合均匀度测试、物料含量检测等为目的的仪器，以期优化产品的过程控制、提高产品质量，FWJD-600型粉末高温介电温谱仪是一款新型的高温介电温谱测试系统，应用于粉末，薄膜，块体和液体的高温介电常数测试，是研究不同材料在高温环境下随温度(T)、频率(f)、电平(V)、偏压(Vi)的变化规律：电容(C)、电感(L)、电阻(R)、电抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø )、电导(B)、导纳(Y)、损耗(D)、品质因数(Q)等参数，同时计算获得反应材料介电性能的复介电常数和损耗参数。是科研机关﹑学校、工厂等单位对无机非金属新材料应用研究的重要设备。设计标准：ASTM D150和D2149-97国际标准GB/T1409-2006国家标准一、主要特点：1、可以兼容粉末，陶瓷，液体等多种不同物理性质的样品测试2、变频抗干扰介质损耗测试仪采用复数电流法，测量电容、介质损耗及其它参数。测试结果精度高，便于实现自动化测量。3、仪器采用了变频技术来消除现场50Hz工频干扰，即使在强电磁干扰的环境下也能测得可靠的数据。4、仪器操作简便，测量过程由微处理器控制，只要选择好合适的测量方式，数据的测量就可在微处理器控制下自动完成。5、反接线测试采用ivddv技术,消除了以往反接线数据不稳定的现象6、具有反接线低压屏蔽功能，在220kVCVT母线接地情况下，对c11可进行不拆线10kV反接线介损测量二、主要技术参数：1、温度范围：室温-600℃，800℃，1000℃（可以定制）2、控温精度：全温区范围内≤±0.3℃3、测温精度：0.1℃4、频率：10HZ-120MHZ5、电极结构：全新三电极创新设计6、控温模式：常温，恒温，高温，多种组合7、校准方式：自带设备校准功能，确保精度8、测试电极：铂依金电极+转换电极9、屏蔽：同轴线缆屏蔽，消除电磁干扰对测试影响10、介电夹具：专用粉末夹具，薄膜夹具，陶瓷三件套11、软件功能：频率、电压、偏压、温度、时间多维变化曲线，数据导入，曲线成图自动生产12、数据传输方式：高速USB13、设备尺寸：550MM*560MM*750MM 应用于测试的各种特种陶瓷粉末等兼容国内外各种仪表

塑料介电温谱测定仪GCWP-A-高低温介电温谱/频谱测量系统一、概述：高低温介电常数适用于各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质，通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究科研机关、高校、工厂等地方。它是在特殊环境下，测量介质在该环境温度下的介电常数。二、技术指标：1、电极直径：6mm 数量：4个 2、电机屏蔽：内径--304不锈钢 外径--聚四氟3、测试电极：四通道，可以同时测试4路试样4、切换频率：可以自由设定试样切换时间5、试验方式：手动模式 自动模式6、试验数据：可导出测试原始数据，同时可以输出测试曲线及打印试验报告7、测量频率：以实际电桥为准8、温度范围：-180°~500°9、加温速率：0.5℃--2.5℃/min10、数 据 线：铜镀银，低温屏蔽线10、机 箱：Q235钢板表面高温喷塑而成11、仪器供电：AC:220V 50Hz 功率：2KW12、测试电桥：安捷伦429413、试验环境：请不要在多尘、多震动、日光直晒、有腐蚀气体下使用。仪器使用时应远离强电磁场，以免干扰实验结果。三、整机组成：1、加温装置：采用陶瓷纤维外旦内部嵌入加热丝组成，有着良好地保温隔热和升温性能2、低温装置：采用液氮低温技术，使实验舱温度降到-190°.3、控制系统：可实现对温控升温、降温控制，同时对4路试样进行切换，实时测控测试数据4、LCR电桥：20HZ-2MHZ

瓷器介电温谱常数测定仪GCWP-A.高低温介电温谱/频谱测量系统一、概述：高低温介电常数适用于各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质，通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究科研机关、高校、工厂等地方。它是在特殊环境下，测量介质在该环境温度下的介电常数。二、技术指标：1、电极直径：6mm 数量：4个 2、电机屏蔽：内径--304不锈钢 外径--聚四氟3、测试电极：四通道，可以同时测试4路试样4、切换频率：可以自由设定试样切换时间5、试验方式：手动模式 自动模式6、试验数据：可导出测试原始数据，同时可以输出测试曲线及打印试验报告7、测量频率：以实际电桥为准8、温度范围：-180°~500°9、加温速率：0.5℃--2.5℃/min10、数 据 线：铜镀银，低温屏蔽线10、机 箱：Q235钢板表面高温喷塑而成11、仪器供电：AC:220V 50Hz 功率：2KW12、测试电桥：安捷伦429413、试验环境：请不要在多尘、多震动、日光直晒、有腐蚀气体下使用。仪器使用时应远离强电磁场，以免干扰实验结果。三、整机组成：1、加温装置：采用陶瓷纤维外旦内部嵌入加热丝组成，有着良好地保温隔热和升温性能2、低温装置：采用液氮低温技术，使实验舱温度降到-190°.3、控制系统：可实现对温控升温、降温控制，同时对4路试样进行切换，实时测控测试数据4、LCR电桥：20HZ-2MHZ

高温介电温普仪概述：本高频介电温谱系统主要用于绝缘材料在不同温度不同频率下的电学性能测试，系统包含高温炉膛，阻抗分析仪，微电流表，夹具，测试软件于一体，可测试材料的介电常数，介质损耗，阻抗谱Co-Co图，机电耦合系数等，同时可分析被测样品随温度，频率，时间变化的曲线，测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。 特点：公司有高温介电测试夹具、高温四探针夹具、高温两探针夹具，可与高温测试平台配套组成一套或多套高温阻抗、介电测量系统。温度范围从室温至600℃、800℃、1000℃、1200℃，具备PID控制算法，控温精度可到士1℃，确保温度控制不超调。提供7种不同控温方式，满足客户多种测试需求。 高温介电测试夹具根据国际标准ASTMD150方法，采用平行板电极原理设计。电极由上电极、下电极以及保护电极组成。上下电极具有良好的同心度和平行度，保护电极可减少周围空气电容的影响，使得测试数据准确可靠。 公司开发的高温阻抗、介电测量系统软件将高温测试平台、高温测试夹具与WK6500系列、Agilent(Keysight)4294A/E4980A/E4990A、TonghuiTH2826/2827/TH2810、Solartron1260LCR测量设备无缝连接，实现了自动完成高温环境下的阻抗、介电参数的测量与分析。另外，还可根据用户提供的其他LCR品牌或型号完成定制需求。 软件可根据实验方案设计，通过测量C和D值，自动完成介电常数和介电损耗随频率、电压、偏压、温度、时间多维变化的曲线。一次测量，同时输出，测量效率高、数据丰富多样。 ■应用领域 ■新型复合绝缘擦亮 ■高分子绝缘材料 ■无机绝缘材料■有机绝缘材料■其它绝缘材料等 功能特点：测量精度高，智能控温，测量频率宽，抗交流干扰；介电软件功能强大，拥有完善的测量系统；直接得出介电常数实部和虚部的比值曲线；直接得出复阻抗实部和虚部比值曲线的 Cole-Cole图； 直接得出机械品质因数0m； 集方案、测量、分析、数字化显示于一体集成化设计；

美国Polyk Technologies公司研发了高电场下的频谱介电测量系统，更好的解决了非线性介电响应问题。非线性介电响应： -当通过LCR Meter或者分析仪（Agilent/Keysight 4284A, E4980A,4294A）测量介电常数时，加载电压通常1V左右；然而，很多压电陶瓷（PZT）和高分子（PVDF）对于加载的电场具有非线性响应；通常它们的介电常数和损耗因子在高压下变得更低。 -在很多应用中，例如电容器和驱动器，介电层10V/um或者100V/um的高电场下工作，它们的有效介电常数和损耗tanδ是非常不用于普通LCR Meter和阻抗分析仪的测量值@1Vrms。 -在介电测试过程中直接加载一个高压信号，如果样品突然发生介电击穿，这对于昂贵的LCR Meter有很大的损坏风险。因此美国Polyk Technologies公司研发了此款宽频谱介电测量系统，有效的避免了上述问题的发生。技术规格：1）大电压：±4000V；2）大电流：±20mA；3）频率范围：100Hz to 1MHz；4）电容范围：100pF to 100nF；5）温度范围：-184℃ to 250℃；6）温度控制腔室：-75℃ to 200℃；（可选）7）温度控制腔室：室温 to 1000℃；（可选）8）宽频范围：20 Hz to 1 MHz or 110 MHz, or 0.01 Hz to 1 MHz(与配备的阻抗分析仪相关) （可选）9）Large AC信号单元；（可选）欢迎垂询！

冠测介电温谱频谱测量系统GCWP-A1、电极直径：6mm 数量：4个2、电机屏蔽：内径--304不锈钢 外径--聚四氟3、测试电极：四通道，可以同时测试4路试样4、切换频率：可以自由设定试样切换时间5、试验方式：手动模式 自动模式6、试验数据：可导出测试原始数据，同时可以输出测试曲线及打印试验报告7、测量频率：以实际电桥为准8、温度范围：-180°~500°9、加温速率：0.5℃--2.5℃/min10、数 据 线：铜镀银，低温屏蔽线10、机 箱：Q235钢板表面高温喷塑而成11、仪器供电：AC:220V 50Hz 功率：2KW12、测试电桥：安捷伦429413、试验环境：请不要在多尘、多震动、日光直晒、有腐蚀气体下使用。仪器使用时应远离强电磁场，以免干扰实验结果。冠测仪器温谱介电常数测定仪GCWP-A

高温介电频谱其它物性测试仪GCWP-A(一、概述：高低温介电常数适用于各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质，通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究科研机关、高校、工厂等地方。它是在特殊环境下，测量介质在该环境温度下的介电常数。二、技术指标：1、电极直径：6mm 数量：4个 2、电机屏蔽：内径--304不锈钢 外径--聚四氟3、测试电极：四通道，可以同时测试4路试样4、切换频率：可以自由设定试样切换时间5、试验方式：手动模式 自动模式6、试验数据：可导出测试原始数据，同时可以输出测试曲线及打印试验报告7、测量频率：以实际电桥为准8、温度范围：-180°~500°9、加温速率：0.5℃--2.5℃/min10、数 据 线：铜镀银，低温屏蔽线10、机 箱：Q235钢板表面高温喷塑而成11、仪器供电：AC:220V 50Hz 功率：2KW12、测试电桥：安捷伦429413、试验环境：请不要在多尘、多震动、日光直晒、有腐蚀气体下使用。仪器使用时应远离强电磁场，以免干扰实验结果。三、整机组成：1、加温装置：采用陶瓷纤维外旦内部嵌入加热丝组成，有着良好地保温隔热和升温性能2、低温装置：采用液氮低温技术，使实验舱温度降到-190°.3、控制系统：可实现对温控升温、降温控制，同时对4路试样进行切换，实时测控测试数据4、LCR电桥：20HZ-2MHZ

GWJDN-4型高低温介电温谱测量系统关键词:四通道，温度：-190℃-1000℃，120MHZGWJDN-4型四通道同屏高温介电温谱测量系统运用三电极法设计原理测量，并参考美国 A.S.T.M 标准。采用Labview系统开发具备弹性的自定义功能，可进行介电温谱、频谱、升温速度、测量参数等设置，符合压电陶瓷与其它新材料测试多样化的需求。电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的安全；资料保存机制，当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中，不丢失试验数据，设备重新启动后可恢复原有试验数据。用于分析宽频、高低温条件下样品的介电系数、阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量，得到这些变化曲线的频率谱、温度谱、介电谱曲线。可广泛应用于铁电压电陶瓷材料、半导体器件及功能薄膜材料等研究。产品特点：1、 提供多方位的测量功能和多元化的价位, 拥有更出色的测量精度:匹配国内外先进阻抗分析仪是采用当前国际先进的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，其0.05%的基本精度、最快达5.6ms的测试速度、10Hz-300MHz的频率范围及高达1GΩ的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测量要求，特别有利于低损耗(D)电容器和高品质因数(Q)电感器的测量。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响，将低阻抗测试能力的下限比常规五端配置的仪器向下扩展了十倍。2、 采用Labview系统开发具备弹性的自定义功能，可进行介电温谱、频谱、升温速度、测量参数等设置。自动升温降温，测试功能强大3、 四通道同时测量,提高效率,增加对比测试的精度 材料与结构匹配设计夹具,高低温稳定性好、精度高 温介电频谱测试功能；变温阻抗测试功能；扫频测试功能；软件：采用C#语言编写，可视化程度高，自动测试，同时显示四通道的测试数据，并图形化。4、 专用高频测试线缆，更适合高频测量：测试引线使用4端子对配置以扩展测量端口，附带BNC阳头连接板，用于连接高温炉的测试夹具，同时测试线采用高频测试专用测试线，设计两层屏蔽。更适合高频介电参数测量。5、 可以实现多种材料不同功能的测试，高温介电，电阻测试等探测采用高精度铂金电极，抗干扰能力强，测量精度高高温炉加热均匀，可实现多种气氛环境下的测试介电系数、阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量，得到这些变化曲线的频率谱、温度谱、介电谱曲线，多种物理参数可实时测试专用的分析和测试软件，可以自行定义，保存数据主要技术参数：1、温度范围： -190℃-1000℃2、测温精度： 0.1℃3．升温速度： 1—20℃/min4、控温模式： 程序控制，提供常温、变温、恒温、升温、降温等多种组合方式5、通讯接口： RS-4858、电极材质： 铂铱合金9、上电极： 直径1.6mm球头电极，引线带同轴屏蔽层10、下电极：直径26.8mm平面电极，引线带同轴屏蔽层11、保护电极： 带保护电极，消除寄生电容、边界电容对测试的影响12、电极干扰屏蔽:电极引线带同轴屏蔽，样品平台带屏蔽罩13、夹具升降控制： 带程序和手动控制，可更换夹具的电动升降装置14、热电偶 ：热电偶探头与样品平台为同一热沉，测控温度与样品温度保持一致15、无电极样品尺寸：直径小于40mm，厚度小于8mm16、带电极样品尺寸： 直径小于26mm，厚度小于8mm17、软件功能：自动分析数据，可以分类保存，样品和测量方案结合在一起，生成系统所需的实验方案，输出TXT、XLS、BMP等格式文件18、测量方案： 提供灵活、丰富的测试设置功能，包括频率谱、阻抗谱、介电谱及其组合19、标准极化样品：8片（10mm*1.5mm） 20、配套设备装置：能够配合ZJ-3和ZJ-6压电测试仪进行测量21、配套设备装置：可以配置10MM，20MM，30MM，40MM压片夹具23、测试频率：20HZ-10MHZ24、测试电平:100mV—2V25、分辨率：1MHZ26、输出阻抗: 100Ω27、测试参数：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc28、基本准确度: 0.05%29、显示:液晶显示30、参数测量：多功能图形和参数测量31、接口方式: RS232C或HANDLER测试仪器：高温介电测试系统可适配Agilent E4990A/E4294A/E4980A、Wayne Kerr 6500P/B、Tonghui TH2838/TH2839/TH2826/TH2828/TH2829/TH2827等系列LCR表或阻抗分析仪，其他品牌型号也可定制开发Agilent E4990A 五种频率选择；20 Hz 至 10/20/30/50/120 MHz，可升级 ±0.08%（典型值 ±0.045%）基本阻抗测量精度 25Ω m 至 40 MΩ 宽阻抗测量范围（10% 测量精度范围） 测量参数：|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、复合 Z、复合 Y、VAC、Iac、VDC、Idc 内置直流偏置范围：0 V 至 ±40 V、0 A 至 ±100 mA 10.4 英寸彩色 LCD 触摸屏上的 4 通道和 4 迹线 数据分析功能：等效电路分析、极限线测试Agilent E4294A覆盖了很宽的测试频率范围(40hz至110mhz)，具有±0.08%的基本阻抗精度。其优异的高q值/低d值精度使其能分析低损耗元件。其宽信号电平范围可用于在实际工作条件下评估器件。测试信号电平范围为5mv至1vrms或200ua至20marms，直流偏置范围为0v至±40v或0ma至±100ma。先进的校准和误差补偿功能避免了进行夹具内器件测量时的测量误差。agilent 4294a是适用于电子元件设计、论证、质量控制和生产测试的强大工具。电路设计和开发工程师也能从它提供的性能和功能中受益。Agilent E4980A 基本精度为0.1%测试频率为100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz量程为20mV～1Vrms,以5mVrms分档具有测试信号电平监视功能高速测量:25ms高速接触检查大的电容测试量程变压器参数测量(供选用)Wayne Kerr 6500P/B简易的TFT触屏操作，10分钟内轻易上手　　电介质、压电片及石英晶体测试解决方案　　30 ms超高速测试速度　　等效Rdc 可高度精准四线式测试，量测到0.01mΩ　　0.05%基本精确度　　可内建0-100mA +/- 40V，外加可至60A DC Bias　　可将测试波形储存成CSV格式，放大、缩小及MARKER功能　　20Hz~120MHz，七种机型，可随时升级 ，最高升级到120MHz　　直觉的用户操作接口，USB、LAN、GPIB及HANDLER　　可使用鼠标及键盘操控，也可外接打印机及使用USB接口储存数据　　具等效电路仿真功能，内建同频率LCR Meter一台 Tonghui TH29系列测试频率:20Hz-1MHz，分辨率:最高0.1nHz基本精度:0.05%测试速度:最快5.6ms/次测试原理:自动平衡电桥高稳定性和一致性:高达15个测试量程配置

玻璃介电温谱其它物性测试仪器GCWP-A+一、概述：高低温介电常数适用于各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质，通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究科研机关、高校、工厂等地方。它是在特殊环境下，测量介质在该环境温度下的介电常数。二、技术指标：1、电极直径：6mm 数量：4个 2、电机屏蔽：内径--304不锈钢 外径--聚四氟3、测试电极：四通道，可以同时测试4路试样4、切换频率：可以自由设定试样切换时间5、试验方式：手动模式 自动模式6、试验数据：可导出测试原始数据，同时可以输出测试曲线及打印试验报告7、测量频率：以实际电桥为准8、温度范围：-180°~500°9、加温速率：0.5℃--2.5℃/min10、数 据 线：铜镀银，低温屏蔽线10、机 箱：Q235钢板表面高温喷塑而成11、仪器供电：AC:220V 50Hz 功率：2KW12、测试电桥：安捷伦429413、试验环境：请不要在多尘、多震动、日光直晒、有腐蚀气体下使用。仪器使用时应远离强电磁场，以免干扰实验结果。三、整机组成：1、加温装置：采用陶瓷纤维外旦内部嵌入加热丝组成，有着良好地保温隔热和升温性能2、低温装置：采用液氮低温技术，使实验舱温度降到-190°.3、控制系统：可实现对温控升温、降温控制，同时对4路试样进行切换，实时测控测试数据4、LCR电桥：20HZ-2MHZ

美国Polyk Technologies公司研发了高电场下的低温频谱介电测量系统，解决了非线性介电响应问题。非线性介电响应： -当通过LCR Meter或者分析仪（Agilent/Keysight 4284A, E4980A,4294A）测量介电常数时，加载电压通常1V左右；然而，很多压电陶瓷（PZT）和高分子（PVDF）对于加载的电场具有非线性响应；通常它们的介电常数和损耗因子在高压下变得更低。 -在很多应用中，例如电容器和驱动器，介电层10V/um或者100V/um的高电场下工作，它们的有效介电常数和损耗tanδ是非常不用于普通LCR Meter和阻抗分析仪的测量值@1Vrms。 -在介电测试过程中直接加载一个高压信号，如果样品突然发生介电击穿，这对于LCR Meter有损坏风险。因此美国Polyk Technologies公司研发了此款宽频谱介电测量系统，有效的避免了上述问题的发生。技术规格：1）大电压：±4000V；2）大电流：±20mA；3）频率范围：100Hz to 1MHz；4）电容范围：100pF to 100nF；5）温度范围：-184℃ to 250℃；6）温度控制腔室：-75℃ to 200℃，无需液氮；（可选）7）温度控制腔室：室温 to 1000℃；（可选）8）宽频范围：20 Hz to 1 MHz or 110 MHz, or 0.01 Hz to 1 MHz(与配备的阻抗分析仪相关) （可选）9）Large AC信号单元；（可选）欢迎垂询！

仪器简介：居里点加热原理居里点裂解仪是一种高频感应加热裂解器，用铁磁性材料作加热元件，将它置于高频电场中，利用电磁感应对其加热，随着温度的升高，其磁渗透性不断降低，达到居里点温度时，载样材料的磁渗透性突然消失，立即从铁磁质变成顺磁质，电磁感应消失，加热停止，温度将稳定在居里点温度。当切断高频电源后温度下降，铁磁性随即恢复。裂解温度通过选择不同的载样材料进行控制，不同的铁磁质的居里点温度不同，如纯铁的居里点温度是770℃，镍的居里点温度是358℃。通过选择不同的合金材料，居里点温度可以从160～1040℃，通过调节铁磁质合金的组成就可获得所需温度的加热元件。居里点裂解的优点1 放在内部磁场中的磁性的载样材料，可以瞬间被加热到居里点温度；2 由于载样材料的特定性，加热温度的精确性得到保证；3 样品被裂解后直接进入GC毛细管，避免了过程污染，保证了极低的死体积；4 吸附管高温气化系统避免了分析物残留组分的污染；5 不仅可以对高聚物进行裂解，还可以进行热解吸附。关于第一和第二点详细解释：居里点瞬间加热在保证高频磁场功率的情况下， 从室温到居里点温度只需0.1—0.2s，升温速度达5000℃／s，这对裂解色谱是至关重要的。如果加热速度慢，相当于样品在一系列温度下渐次分解，使分解过程复杂化(包括许多副反应)，谱图的特征性和重复性就差。居里点加热则无此弊端，可使样品在一个设定的温度下“均一地”裂解。 高精度的保证由于裂解碎片的组成和相对含量与被测高分子的结构密切相关，所以，每种高分子的裂解色谱图都各有其特征，我们称之为热裂解“指纹”色谱图。“指纹”技术的应用使得分析的重现性变得非常重要。在热裂解过程中裂解温度丝毫的改变都将直接影响裂解产物，造成色谱图不具有可比性。然而，相对其他裂解方法，居里点裂解仪因其载样材料的特定性，确保了裂解温度的精确性，使得分析碎片成分变得简单易行。JAI的特色众所周知，将热箔片应用于居里点热裂解器仪是JAI的首创，它已经成为居里点热裂解仪全球化的标准。因其具有背景干扰低的特点，可用来进行纳克(ng)级分析，故而成为业界定性定量分析的首选仪器！热箔片适用于固、液各态样品的承载，对于固体，如颗粒、轻质粉末等样品，只需用箔片将其包裹即可，对于液体，如是不可挥发的溶质，可将其点滴于箔片中待溶剂挥发后包裹即可，如是挥发性组分，可用特制玻璃棉吸附再将其包裹。可分析的物质合成高聚物、橡胶/乳胶、液态高聚物、树脂、有机色素、合成纤维、颜料、天然纤维、纸、细菌、碳水化合物、未知化合物。可分析物质举例1 合成高聚物的定性与定量分析定性分析：比较被测高分子和标准品的热裂解指纹色谱图。定量分析：依据一定裂解条件下共聚物组成同裂解单体呈线性关系，用已知组成的标样作工作曲线，定量测定同类共聚物的组成。2 微生物的分类鉴定　　首先要对微生物的培养基、样品采集、处理、制备等进行大量研究，获得多种微生物的标准热裂解指纹色谱图。微生物的裂解谱图，对于所有菌种有许多共同特征峰，但相对峰高和峰面积具有明显区别。同一份样品的重复分析，同一微生物的复制样品，只要采用类似的裂解条件，在一段时间内能得到重现性较好的裂解色谱图。根据标准裂解谱图就可以对微生物进行鉴定。3 油脂成分分析水热分解同时衍生化裂解技术：将油脂样品和适量衍生化试剂，混合后在热箔片中共热，裂解形成的脂肪酸立即与试剂发生甲基化反应，转化成弱极性的脂肪酸甲酯，并出现在谱图上。这使得分析操作非常简捷和谱图解释十分明确。应用领域聚合物工业 添加剂生产工业 胶粘剂产品工业 油漆、涂料和颜料生产工业 轮胎工业 （质量控制，苯乙烯－丁二烯混合物的定量） 纸工业（纸张中的添加剂，加工过程中的有害物） 环境监测分析（固体样品） 纺织和纤维工业制药工业（药丸表面的测定） 司法鉴定分析地质材料分析生化、微生物化验未知化合物组成鉴定应用案例公安部物证检测中心：国家九五攻关课题《毒品吸食者毛发中毒品检测技术研究》以及多项公安部部级重点课题工作。北京橡胶工业研究设计院：神五宇航服材质剖析研制，中国第一代核潜艇外层吸收声纳橡胶剖析研制，国家橡胶品标准的制定。中科院化学所：丙稀酸酯涂料的直接分析，聚烯烃树脂改性剂结构分析。日本药物学会：合成药物中吸附树脂的分析。日本木品学会：红松中邻甲氧基苯酚(愈创木酚)及其七种衍生物的研究。日本海洋学会：海泥化合物组分鉴定研究技术参数：•  加热方式 ：高周波诱导加热•  热分解时间 ：1秒~99小时•  高周波功率 ：600 KHz、48 W•  流路切换 ：电磁阀•  传感器尺寸(mm)・ 重量：(W) 90 × (H)280 × (D)160 mm・ 2.5 kg•  RF电源尺寸(mm)・ 重量：(W)160 × (H)250 × (D)380 mm・ 8 kg •  电源 ：AC100~240 V・ 5 A•  兼容GC：所有GC（特殊型号除外）主要特点：居里点裂解的优点1 放在内部磁场中的磁性的载样材料，可以瞬间被加热到居里点温度；2 由于载样材料的特定性，加热温度的精确性得到保证；3 样品被裂解后直接进入GC毛细管，避免了过程污染，保证了极低的死体积；4 吸附管高温气化系统避免了分析物残留组分的污染；5 不仅可以对高聚物进行裂解，还可以进行热解吸附。

产品关键词：电吸收谱、电场诱导吸收光谱、电荷注入吸收光谱、EIEAS、CIEAS、电荷调制吸收谱、斯塔克效应、带隙测定、激子态、量子阱子带跃迁、电场诱导效应、注入电荷诱导效应▌ 产品简介电吸收光谱仪（EAS）是一种通过测量样品在施加电场时对光的吸收变化来研究半导体和其他材料属性的技术。通过电吸收光谱，可以得到吸收系数与电场的一阶、二阶等高阶效应的样品信息。其中，斯塔克效应（Box1）是典型导致电吸收信号产生的物理效应，此外还可以用来研究电荷调制吸收谱等。Excion 包括电场诱导吸收光谱（EIEAS）和电荷注入吸收光谱（CIEAS）两大模块功能，方便用户灵活研究电场诱导效应和注入电荷诱导效应。 Excion 是全球范围内首套电吸收光谱商业化设备，由东谱科技的科研人员和工程师携手来自剑桥大学、香港城市大学、中山大学、华南理工大学的专家成员联合研发而成。 从应用方向上，EAS 具有广泛的应用范围，特别是在半导体物理和光电子学领域。以下是一些EAS应用的关键领域和方向： （1）带隙测定：EAS可用于测量半导体的带隙。在外加电场作用下，靠近带边的吸收起始点会发生移动，从而允许精确确定带隙能量。 （2）激子态：在半导体中，激子——电子和空穴的束缚态——可以使用 EAS 进行研究。外加电场可以改变这些激子存在所需的能量，这表现为吸收光谱的变化。（3）量子阱子带跃迁(intersubband transition)：对于像量子阱、线和点这样的量子限制结构，EAS 可以用来观察子带间的跃迁，这对于理解材料的尺寸对电子性质的影响非常重要。 （4）材料质量评估：EAS可以帮助检测半导体样品中的杂质和缺陷。吸收光谱的变化可能表明存在影响电子结构的缺陷或杂质。（5）光电子器件特性表征：在开发LED、光电探测器和太阳能电池等器件时，EAS可以提供有关材料在工作状态下的行为的理解。这包括研究电场对光发射或吸收过程效率的影响。 （6）调制器和开关：基于半导体的光调制器和开关依赖于斯塔克效应，这可以通过EA光谱学来表征和优化。（7）非线性光学特性：具有非线性光学特性的材料可以使用EAS进行研究，以了解它们如何与强电场相互作用，这对于光信号处理和通信应用至关重要。 （8）量子信息处理：在新兴的量子计算领域，EAS可以协助设计和分析可能作为量子比特（qubits）或其他量子光学组件的半导体结构。 总之，EA光谱学的应用使研究人员和工程师能够深入了解材料的电子属性，有助于推进材料科学的发展，并优化光电子器件，服务于包括半导体、电信、能源、照明及显示和量子计算等在内的各个行业。Excion电吸收光谱仪的一般使用流程如下：（1）样品准备： 将半导体或其他材料的薄膜样品准备好，并附上电接触点，以便在其上施加电场。常见的方式是把样品制备成三明治结构。（2）施加电场： 向样品施加直流或低频电场，可以在软件灵活设置电场的大小、频率、偏置值等。（3）光吸收测量： 在EIEAS 或CIEAS的模式下，设置扫描波长、扫描电场频率、扫描电场大小等测试变量，进行变量依赖的光吸收测量。（4）数据分析： 通过比较有无电场时的吸收光谱，可以观察到对应于材料中不同电子态之间转换的吸收变化。施加电场可能会导致吸收峰的位移，表明电子在能级间转换所需能量的变化。Excion 提供了数据平滑、分峰、一阶导、二阶导、指数拟合、多项式拟合等丰富的数据分析功能。（5）数据导出：Excion提供便捷的数据导出功能，可以导出TXT/CSV等文本格式的数据。（6）数据解释：用户从Excion获得的数据可以用来研究半导体材料的各种性质，包括带隙（价带和导带之间的能量差）、带边缘附近的态密度、内建电场以及可能影响电子结构的缺陷或杂质的存在等等。Excion凭借其高灵敏度与精确度、多功能性、易用性、高通量检测、耐用性、完善的技术支持与售后服务等优点，成为工业和科研领域的理想选择。▌ 产品特点□ 多功能性：Excion 开发借鉴了最前沿的电吸收科研与工业应用研究成果，集成了EIEAS和CIEAS两种原理模式，集成了透射与反射两种光路检测模式，还可以进行多达8种以上的物理变量扫描与单点检测测试；□ 高灵敏度与精确度：Excion 采用了最新的调制、传感与检测技术，能够捕捉到极其微小的变化，其测量结果具有高度的可靠性和重复性，确保了数据的准确性；□ 宽光谱范围：这款光谱仪覆盖了从紫外到近红外（200-2500nm）的广泛波段，适用于多种不同的电吸收光谱分析需求；□ 高通量检测：人工智能的设计理念，极高程度的自动化设计，高速数据采集系统使得 Excion 能够迅速完成光谱扫描，大大提高了工作效率和实验通量；□ 易于操作：Excion的用户界面设计直观易懂，即使是非专业人员也能轻松上手，具有典型的“Plug & Play”和“Turn-key”特征。；□ 稳定性与可靠性：Excion采用高质量的零部件和精密的制造工艺，引入了完善的错误处理与设计，确保了仪器长期稳定运行，减少了维护成本；□ 完善的技术支持与售后服务：我们为 Excion 提供全面的技术支持和保修服务，确保用户在使用过程中无后顾之忧。▌ 测量模式测量模式□ 单点测量；□ 扫描测量；波长扫描频率扫描相位扫描光源强度扫描电场强度扫描注入电流扫描温度扫描：变温测试原理模式 电场诱导吸收光谱（EIEAS）电荷注入吸收光谱（CIEAS）电荷调制吸收谱等电吸收谱▌ 功能参数Excion电吸收光谱仪功能原理功能EIEASCIEAS 光路功能模块透射式反射式 泵浦光模块有/无（405/450/520/980nm可选） 检测波长功能模块200-300 nm 300-1100 nm1100-1800 nm 1800-2500 nm 变温功能模块常温变温4 K-300 K78 K-300 K 室温-500 K 可视化模块有/无 电学信号模块1频率10 mHz~105 KHz电压AC,0-20V DC,0-10V.电场制样决定电流 制样决定模块2频率45 Hz-999.9Hz电压AC,0-350V DC,0-±500V 电场制样决定电流 制样决定波长范围 200-2500nm(选配) 最小步进波长 ±0.1 nm (典型值) 波长调节方式 自动检测深度6阶 检测灵敏度 10&minus 4 OD 软件 功能1. Excion软件包2. 测试与分析功能▌ 产品应用□ 带隙测定；□ 激子态研究；□ 量子阱子带跃迁；□ 材料质量评估；□ 光电子器件特性表征；□ 调制器和开关；□ 非线性光学特性；□ 量子信息处理等。

产品介绍：DZ5001介电测试仪是一款专业用于测量介质损耗和介电常数的仪器，广泛应用于板材、陶瓷、瓷器、云母、玻璃和塑料等行业的材料检测。工作原理：DZ5001介电测试仪采用了高频谐振法，在较高的测试频率条件下，能够准确的测量高频电感或谐振回路的Q值、电感器的电感量和分布电容量、电容器的电容量和损耗角正切值等参数，从而确保测量结果的准确性。应用范围：DZ5001介电测试仪适用于多种材料的介电常数测量，包括但不限于金属氧化物、陶瓷、玻璃、塑料等。这些材料在电子、通信、航空航天等领域具有广泛应用。性能优势：1、仪器自动扣除残余电感和测试引线电感。大幅提高测量精度。2、便捷操作。仪器配备了液晶显示器，测量过程中数据直观可见，便于用户进行操控。3、智能功能。仪器能够自动扣除残余电感和测试引线电感，大幅提高测量精度。技术参数：信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-100MHZ信号源频率覆盖比7000:1信号源频率精度6位有效数3×10-5 ±1个字 采样精度12BIT 高精度的AD采样，保证了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数，分辨率0.1Q测量工作误差5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH ：1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%调谐电容主电容17-240pF (一体镀银成型，精度高)电容自动搜索是(带步进马达)电容直接测量范围1pF～25nF调谐电容误差 ±1 pF或1%分辨率 0.1pF谐振点搜索自动扫描Q合格预置范围5-1000声光提示Q量程切换自动/手动LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct，Er ,Tn等自身残余电感和测试引线电感有

科迈斯三元电池分析仪，便携式三元锂电池光谱仪。科迈斯手持式三元锂电池光谱分析仪检测Ni镍、Co钴、Mn锰等元素及含量，快速区分材料类型（如622型、532型、111型锂电池），正极负极，锂电池，铅酸电池，磷酸铁锂动力电池，高倍率动力电池， 三元动力电池、软包电芯，18650锂电芯、聚合物动力电芯，铝壳电芯，平板电池，拆机良品电池电芯，电动车电池组等。K1000G手持式三元锂电池光谱仪 科迈斯便携式光谱仪技术规格1、环境要求：温度为-20~50℃，相对湿度10~90%(无冷凝)，工作场地附近不能有强磁场、强振动源及高频设备。2、 防水、防尘、防扎、防摔 仪器具有很好的平衡性，在测试时能立于工作台上，无需手扶，一键式按钮设计，即使长时间操作也无疲劳感3、激发源：大功率微型直板电子X射线管，激发电压为35kV；无高压电缆、无射频噪声、更好的X射线屏蔽、更好的散热。 固定电压35kV,电流100uA（美国Moxtek),标配Ag靶，W靶、Rh靶可以选择订制。4、采用KMX技术，更高X射线计数率，仪器内壳喷涂导电银涂料与线路板电子屏蔽布，防止电磁干扰稳定元素分辨率设计。5、探测器：Si-pin探测器，可同时记录分析数据和光谱图；Moxtek Si-PIN探测器(6 mm2 能量分辨率170eV FWHM) 测试元素：合金模式：针对锂电池常规元素定制（钴、镍、锰、铜）矿石模式（钴、镍、锰、铜、LE剩余元素）6、运算方法：KMX-FP无标样测试法，专门针对锂电池回收行业做了数据库修正；7、点触或扣动扳机控制测试开始，测试过程无需长扣扳机。根据客户需求，也可以一直按着扳机测试样品。8、安全性：扳机锁功能，可设定锁定时间。开启时，点触和扳机都无法执行操作；9、电池：原装7.2V大容量可充电锂电池，不拔电池可直接在底部查看电量；标配2个锂电池10、薄膜窗口更换：不需借助工具，即可轻松更换窗口膜；11、操作系统：Window CE 6.0工业级仪器专用操作系统，安全、放心；12、数据显示：元素可根据测试需求，调整元素显示顺序或是否显示；13、数据存储：32GB嵌入存储，标配32G MicroSD卡，可存储150000组数据及其X-Ray谱图，可扩展存储容量；14、数据导出：一种是通过存储设备SD卡或U盘，直接将数据导出；一种是通过PC软件将数据导出；15、数据格式：pdf或Excel格式，包括元素含量、图谱、图像等，并有多种模板供选；仪器设计特点：1、散热性好：超过1/2的机体采用铝合金外壳设计，仪器顶部有的槽式散热装置，整个体系使散热非常有效，延长机器寿命, X射线分析仪工作更加更稳定，从而故障率极低2、操作简单：仪器设计理念为简单经济原则，硬件方面采用固定高压、免去内部复杂电机和滤光片、外置316校准片等简单设计；软件采用傻瓜式操作界面。真正让客户用最少的成本获得更多的收益。轻轻3次屏幕点击即可做到45秒开机测试、0.8秒出牌号与含量；3、人性化设计：质量轻（1.6kg) 体积小（220mm*150mm*220) 坚固耐用防摔手腕绳；仪器底部电池电量反馈灯；顶部与底部辐射警告闪烁灯；菱形纹路软胶手柄；仪器具有很好的平衡性，在测试时能立于工作台上，无需手扶，一键式按钮设计，即使长时间操作也无疲劳感；显示屏做到整机一体化设计，整机连体构造，PDA不可拆卸,可防尘,防雾,防水,故障低工业级高分辨率TFT触摸显示彩屏，带LED背光；像素240×3204、测试数据精准：仪器软件采用基本参数法，K-1688便携式光谱仪在分析合金前不需要预先知道合金种类，实现全自动分析标准库中有500多种标准牌号，能分析的合金高达万种，用户可自定义300种；不规则或小型样品的补偿性测试方法能检测很小或很少的样品,如直径为0.04mm的细丝也能立即辨认；可分析Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，Hf，Ta，W，Re，Pb，Bi，Zr，Nb，Mo，Pd，Ag，Cd，Sn，Sb等23元素 手持XRF光谱仪在三元锂电池检测的应用 近年来，三元锂电池市场快速增长，对正负极材料的需求也日益增加。三元材料只要包括NCM(镍钴锰酸锂)和NCA(镍钴铝酸锂)两种，NCM是目前主流的三元材料。大家都知道，锂电池使用不当会引发爆炸，为了避免这种安全事故，也为了确保锂电池的使用寿命，另外在废弃回收再利用方面，也可以避免环境污染。手持XRF光谱仪在三元锂电池的应用场景有哪些呢?电池正极材料鉴别　　过去发生的诸多严重电池事故，多半是由于电池不达标引起的，手持XRF光谱仪对电池的正极材料进行元素以及元素含量的测定，确保电池达标合格。电池制造中的质量控制　　对于电池制造厂家来说，材料、半成品和成品的质量是非常重要的。科迈斯推荐的手持XRF光谱仪可以帮助检测人员可以在无损的条件下，准确地检测每一个锂电池样品，让成品检测更为快捷、高效。废旧电池的回收与分拣 废旧电池中含有大量的锰、钴、镍等重金属元素，而且其电解液中也含有六氟磷酸锂等高毒性物质及挥发物，处置不当会对环境造成严重破坏。电池在回收前，需利用先进的检测设备，现场快速准确分析检测，不仅可以避免污染环境，同时也提升了电池的利用效率、创造新的利润空间，降低电池制作的成本。手持XRF光谱仪可以对大量废日电池进行现场检测和快速分类。数秒便可得出废旧电池的型号和成分含量，为购销双方在交易时作出迅速可靠的判断提供了必要的信息。

便携式土壤水分温度电导率介电速测仪产品介绍： 便携式土壤水分温度电导率介电速测仪可同时测量土壤含水量，温度，电导率，介电常数四个参数。广泛用于农业，科学研究，流域管理，温室，地面调查，土壤质量评估，土壤调查等领域。产品特点：.耐用、准确和容易使用的便携式土壤速测仪.通过苹果或安卓手机或平板设备连接设备WIFI，使用APP控制和显示土壤参数.充电电池，提供一整天连续使用 技术参数：电池可充电镍氢电池，3.6V/300mAh无线协议蓝牙外壳阳极氧化铝操作温度-10°C to +65°C土壤探头Stevens HydraProbe探头探针船用不锈钢测量参数土壤水分、温度、电导率、介电常数尺寸整体70cm-153cm，可伸缩，传感器20cm，7.5cm直径水分测量范围：0-饱和精度：多数土壤±0.01 WFV；特殊土壤最多±0.03电导率测量范围：0 ~1.5 S/m精度：≦± 2.0% 或0.02S/m通常是更大的介电常数测量范围：1-80 (1=空气；80=蒸馏水)精度： ± 0.5% or ± 0.2温度测量范围：-10 ~ 60° C精度：±0.3℃

国标GBT1409介电常数试验仪测量范围及误差 本电桥的环境温度为20±5℃，相对湿度为30％－80％条件下，应满足下列表中的技术指示要求。 在Cn＝100pF R4＝3183.2（W）（即10K/π）时 测量项目 测量范围 测量误差 电容量Cx 40pF--20000pF ±0.5% Cx±2pF 介质损耗tgd 0～1 ±1.5％tgdx±0.0001 在Cn＝100pF R4＝318.3（W）（即1K/π）时 测量项目 测量范围 测量误差 电容量Cx 4pF--2000pF ±0.5% Cx±3pF 介质损耗tgd 0～0.1 ±1.5％tgdx±0.0001国标GBT1409介电常数试验仪电桥测量灵敏度 电桥在使用过程中，灵敏度直接影响电桥平衡的分辨程度，为保证测量准确度，希望电桥灵敏度达到一定的水平。通常情况下电桥灵敏度与测量电压，标准电容量成正比。在下面的计算公式中，用户可根据实际使用情况估算出电桥灵敏度水平，在这个水平上的电容与介质损耗因数的微小变化都能够反应出来。 DC/C或Dtgd=Ig/UwCn(1+Rg/R4+Cn/Cx) 式中：Ｕ为测量电压 伏特（Ｖ）ω为角频率 2pf=314(50Hz) Ｃｎ标准电容器容量 皮法（pＦ） Ｉｇ通用指另仪的电流5X10-10 安培（Ａ） Ｒｇ平衡指另仪内阻约1500 欧姆（W） Ｒ４桥臂R4电阻值3183 欧姆（W） Ｃｘ被测试品电容值 皮法（ｐF）3 电容量及介损显示精度： 电容量： ±0.5%×tgδx±0.0001。 介 损： ±0.5％tgdx±1×10-44 辅桥的技术特性： 工作电压±12V，50Hz 输入阻抗1012　W 输出阻抗0.6 W 放大倍数0.99 不失真跟踪电压 0～12V（有效值）5 指另装置的技术特性： 工作电压±12V 在50Hz时电压灵敏度不低于1X10-6V／格， 电流灵敏度不低于2X10-9A／格 二次谐波 减不小于25db 三次谐波 减不小于50db特点：优化的测试电路设计使残值更小◆ 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术◆ LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换◆ 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7 计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至低，彻底 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。标准配置：高配Q表 一只 试验电极 一只 （c类）电感 一套（9只）电源线 一条说明书 一份合格证 一份保修卡 一份为什么介电常数越大，绝缘能力越强？因为物质的介电常数和频率相关，通常称为介电系数。介电常数又叫介质常数，介电系数或电容率，它是表示绝缘能力特性的一个系数。所以理论上来说，介电常数越大，绝缘性能就越好。注：这个性质不是绝对成立的。对于绝缘性不太好的材料(就是说不击穿的情况下,也可以有一定的导电性)和绝缘性很好的材料比较,这个结论是成立的。国标GBT1409介电常数试验仪但对于两个绝缘体就不一定了。介电常数反映的是材料中电子的局域(local)特性,导电性是电子的全局(global)特征.不是一回事情的。补充：电介质经常是绝缘体。其例子包括瓷器(陶器)，云母，玻璃，塑料，和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质，并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质，其相对介电常数约为80。对于时变电磁场，物质的介电常数和频率相关，通常称为介电系数。介电常数又叫介质常数，介电系数或电容率，它是表示绝缘能力特性的一个系数国标GBT1409介电常数试验仪介电常数,用于衡量绝缘体储存电能的性能.它是两块金属板之间以绝缘材料为介质时的电容量与同样的两块板之间以空气为介质或真空时的电容量之比。介电常数代表了电介质的极化程度，也就是对电荷的束缚能力，介电常数越大，对电荷的束缚能力越强。电容器两极板之间填充的介质对电容的容量有影响，而同一种介质的影响是相同的，介质不同，介电常数不同国标GBT1409介电常数试验仪介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角（功率因数角Φ）的余角δ称为介质损耗角。损耗因子也指耗损正切，是交流电被转化为热能的介电损耗（耗散的能量）的量度，一般情况下都期望耗损因子低些好 [1] 。概念：电介质在外电场作用下，其内部会有发热现象，这说明有部分电能已转化为热能耗散掉，电介质在电场作用下，在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率，或简称介质损耗（diclectric loss）。介质损耗是应用于交流电场中电介质的重要品质指标之一。介质损耗不但消耗了电能，而且使元件发热影响其正常工作。如果介电损耗较大，甚至会引起介质的过热而绝缘破坏，所以从这种意义上讲，介质损耗越小越好。一些介质在电场极化时也会产生损耗，这种损耗一般称极化损耗。位移极化从建立极化到其稳定所需时间很短（约为10-16～10-12s），这在无线电频率（5×1012Hz 以下）范围均可认为是极短的，因此基本上不消耗能量。其他缓慢极化（例如松弛极化、空间电荷极化等）在外电场作用下，需经过较长时间（10-10s或更长）才达到稳定状态，因此会引起能量的损耗。若外加频率较低，介质中所有的极化都能完全跟上外电场变化，则不产生极化损耗。若外加频率较高时，介质中的极化跟不上外电场变化，于是产生极化损耗。 [2]3）电离损耗　　电离损耗（又称游离损耗）是由气体引起的，含有气孔的固体介质在外加电场强度超过气孔气体电离所需要的电场强度时，由于气体的电离吸收能量而造成指耗，这种损耗称为电离损耗。4）结构损耗在高频电场和低温下，有一类与介质内邻结构的紧密度密切相关的介质损耗称为结构损耗。这类损耗与温度关系不大，耗功随频率升高而增大。试验表明结构紧密的晶体成玻璃体的结构损耗都很小，但是当某此原因（如杂质的掺入、试样经淬火急冷的热处理等）使它的内部结构松散后。其结构耗就会大大升高。

ASTMD150介电常数测试仪本标准修改采用IEC 60250： 1969« 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电 容率和介质损耗因数的推荐方法》（英文版）。本标准根据IEC 60250:1969重新起草。在附录B中列出了本标准章条编号与IEC 60250:1969章 条编号的对照一览表。考虑到我国国情，在采用IEC 60250:1969时，本标准做了一些修改。有关技术性差异已编入正文 中并在它们所涉及的条款的页边空白处用垂直单线标识。为便于使用，本标准做了下列编辑性修改：a） 删除国际标准的目次和前言,b） 用小数点'、代替作为小数点的逗号c） 弓|用的 IEC 60247 , ^Measurement of relative permittivity» dielectric dissipation factor and d. c. resistivity of insulating liquids”即“液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻 率的测量''代替uRecommended Test cells for Measuring the Resistivity of Insulating Liquids and Methods of cleaning the cells”即“测量绝缘液体电阻率的试验池及清洗试验池的推荐 方法七d） 用V代替e） 增加了“术语七f） 增加公式中符号说明；g） 图按 GB/T 1. 1-2000 标注。本标准与GB/T 1409 -1988的相比，主要变化如下：1） 增加“规范性引用文件”（本标准第2章）；2） 增加“电介质用途”（本标准41）；3） 删去导电橡皮；4） 增加“石墨”（本标准5. 1.3）；5） 增加“液体绝缘材料”（本标准5. 2）o本标准代替GB/T 1409-1988（（固体绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波长在内）下相对介电常 数和介质损耗因数的试验方法》。本标准的附录A、附录B为资料性附录。本标准由中国电器工业协会提出。本标准由全国绝缘材料标准化技术委员会归口。本标准起草单位：桂林电器科学研究所。本标准主要起草人：王先锋、谷晓丽。本标准所代替标准的历次版本发布情况为：一-GB/T 1409- 1978；GB/T 1409—1988 o测量电气绝缘材料在工频、音频、咼频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTMD150介电常数测试仪3.12.7 θ(DEG)：-179.999º — 179.999º 3.12.8 θ(RAD)：-3.14159 — 3.141593.12.9 Δ%：-999.999% — 999.999%3.13 等效电路：串联, 并联3.14 量程方式：自动, 保持3.15 触发方式：内部, 手动, 外部, 总线3.16 平均次数：1－2563.17 校准功能：开路, 短路全频、点频校准， 负载校准3.18 数学运算：直读, ΔABS, Δ%3.19 延时时间设定：0 -- 999, 最小分辨率100us3.20 比较器功能a）10档分选，BIN1～BIN9、NG、AUXb）档计数功能c）PASS、FAIL前面板LED显示3.21 列表扫描a）10点列表扫描b）可对频率、AC电压/电流、内/外DC偏置电压/电流进行扫描测试c）每扫描点可单独分选3.22 内部非易失性存储器：100组LCRZ仪器设定文件，201次测试结果3.23 外部USB存储器a）GIF图像b）LCRZ仪器设定文件c）测试数据USB存储器直接存储3.24 接口3.24.1 I/O接口：HANDLER，从仪器后面板输出3.24.2 串行通讯接口：USB、RS232C3.24.3 并行通讯接口：GPIB接口（选件）3.24.4 网络接口：LAN3.24.5 存储器接口：USB HOST（前面板）3.24.6 偏置电流源控制接口DCIa）使用DCI接口可控制外部直流偏流源，偏置电流最大可达120A。b）选件，DCI与GPIB 只能2者选13.25 通用技术参数3.25.1 工作温度, 湿度：0℃－40℃, ≤ 90%RH3.25.2 电源电压：220V±20%，50Hz±2Hz3.25.3 功耗最大80VA3.25.4 体积(W×H×D)： 280 mm × 88 mm × 370 mm(无护套)，369 mm × 108 mm × 408 mm(带护套)。3.25.5 重量：约5kg ASTMD150介电常数测试仪本标准适用于测量液体、易熔材料以及固体材料。测试结果与某些物理条件有关，例如频率、温度、 湿度，在特殊情况下也与电场强度有关.有时在超过1 000 V的电压下试验，则会引起一些与电容率和介质损耗因数无关的效应，对此不予 论述。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款，凡是注日期的引用文件，其随后所有 的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标^准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究 是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准，IEC 60247：1978液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量3术语和定义下列术语和定义适用于本标准。3. 1相对电容率 relative permittivity电容器的电极之间及电极周围的空间全部充以绝缘材料时，其电容Cx与同样电极构形的真空电 容G之比：式中：相对电容率：充有绝缘材料时电容器的电极电容；真空中电容器的电极电容。在标准大气压下，不含二氧化碳的干燥空气的相对电容率％等于L 000 53o因此，用这种电极构 形在空气中的电容G来代替G测量相对电容率％时，也有足够的精确度。在一个测量系统中，绝缘材料的电容率是在该系统中绝缘材料的相对电容率％与真空电气常数気 的乘积。在SI制中，绝对电容率用法/米（F/m）表示°而且.在SI单位中，电气常数s为：= 8.854 X 10 忐 XR） （2）在本标准中，用皮法和厘米来计算电容，真空电气常数为：ASTMD150介电常数测试仪介质损耗因数° dielectric dissipation factortand损耗角8的正切。3.4[介质]损耗指数 [dielectric] loss indexft该材料的损耗因数槌紡与相对电容率的乘积。3.5复相对电容率 complex relative permittivityASTMD150介电常数测试仪在测定电容率需要较高精度时，最大的误差来自试样尺寸的误差，尤其是试样厚度的误差，因此厚 度应足够大，以满足测量所需要的精确度。厚度的选取决定于试样的制备方法和各点间厚度的变化。 对1%的精确度来讲，1. 5 mm的厚度就足够了，但是对于更高精确度，最好是采用较厚的试样，例如 6 mm〜 12 mm。测量厚度必须使测量点有规则地分布在整个试样表面上，且厚度均匀度在± 1 %内。 如果材料的密度是已知的，则可用称量法测定厚度。选取试样的面积时应能提供满足精度要求的试样 电容。测量10 pF的电容时，使用有良好屏蔽保护的仪器。由于现有仪器的极限分辨能力约1 pF,因此 试样应薄些，直径为10 cm或更大些。需要测低损耗因数值时，很重要的一点是导线串联电阻引入的损耗要尽可能地小，即被测电容和该 电阻的乘积要尽可能小。同样，被测电容对总电容的比值要尽可能地大。第一点表示导线电阻要尽可 能低及试样电容要小，第二点表示接有试样桥臂的总电容要尽可能小，且试样电容要大，因此试样电 容最好取值为20 pF,在测量回路中，与试样并联的电容不应大于约5 pF0电极系统

Novocontrol GmbH是德国一家专业的电介质频率谱、阻抗谱、温度谱等电介质材料物理量测量仪器的生产厂家，创立于1980年。Novocontrol的介电谱仪可以通过与Keysight高频分析仪的结合达到很宽的频率范围（3μHz~3GHz）；能灵敏地测量很低电导率和很低损耗的材料（分辨率可达10-5）；具有很宽的阻抗分析范围（10mΩ~100TΩ）；不但可以测量各种固体、薄膜材料，还可以测量液体，粉末等样品材料；其自主研发的全自动在线控制软件可以实时进行多达三十多种不同参数的测量与分析。三种不同温度范围的精确温度控制系统，可以满足不同电介质材料测量时对温度范围和控温精度的不同要求，另外我们还提供温度高达1200℃~1600℃的高温炉系统，用于研究电介质材料在高温条件下的介电性能。Novocontrol不但可提供完整的电介质参数测量系统，也可根据客户的需求提供相应的部件，例如阻抗分析仪、样品架、温度控制系统和分析软件等。也可以为用户测量一定数量的实验样品。Novocontrol宽频介电阻抗谱仪不仅是实验室开发和研究新材料的重要测量手段，也是生产质量控制和优化生产工艺的强有力的工具。Novocontrol宽频介电阻抗谱仪应用于化学、物理化学、电化学、电子、电工工程、半导体、材料科学、生物学和制药等领域，特别是聚合物、树脂、陶瓷、橡胶、玻璃、液晶、石油、悬浮体以及半导体晶片及器件等的研究。目前其用户包括多个国家的科研院所和400多家国际企业。技术参数：1.频率范围：3uHz至40MHz（up to 3GHz with Keysight E4991B）2.温度范围：-160度至1600度3.阻抗范围：10m Ohm~100TOhm 4.测量电压：10-6~3V 5.直流偏压：±40V 主要特点：1.很宽的频率范围2.高精度3.很宽的阻抗范围4.多种类型样品（固、液、薄片和粉末等）5.功能强大的控制软件

PMT-2普洛帝锂电池电芯浆料液体颗粒计数器，采用英国普洛帝核心技术创新型的第八代双激光窄光颗粒检测传感器，双精准流量控制-精密计量柱塞泵和超精密流量电磁控制系统，可以对清洗剂、半导体、超纯水、电子产品、平板玻璃、硅晶片等产品的在线或离线颗粒监测和分析，目前是英国普洛帝分析测试集团向水质领域及微纳米检测领域的重要产品。普洛帝锂电池电芯浆料液体颗粒计数器产品优势：应用：创新性、多用途、多模块条件；技术：第八代双激光窄光检测技术应用；软件：分析测试和校准计量相分离消除干扰；输出：IPAD数据采集技术使用；在线优势：清洗剂、半导体、超纯水、电子产品、平板玻璃、硅晶片等产品的在线颗粒监测和分析，都是PMT-2微纳米监测仪的经典应用场所，并为生产线上的重要组成部分。在线、实时、连续取样、报警提示，能够即时掌握颗粒污染诊断和趋势。离线优势：移动测量和固定测量颗粒大小及多少双模式，解决连续跟踪监测的生产过程难题，无论您是即时测量还是清洁跟踪监测，都会为您提供完善的测试方案，让您的测试更加快捷。应用范围：可以对清洗剂、半导体、超纯水、电子产品、平板玻璃、硅晶片、手机零部件、纯水机、纳米过滤、微米过滤等领域进行固体颗粒污染度检测，及对有机液体、聚合物溶液进行不溶性微粒的检测。技术参数：订制要求：各类液体检测要求；传感器：第八代双激光窄光检测器；测试软件：V8.3分析测试软件集成版&PC版；测试标定：JJG1061或乳胶球或ISO21501；操作方式：彩色液晶触摸屏操作&无线键鼠组合；检测范围：1-450um；特殊检测：自定义1~100μm或者4~70µ m（c）微粒，0.1μm或者0.1µ m（c）任意检测；取样方式：精准计量泵；进样精度：±1%精确度：±3%典型值；重合精度：1000粒/mL（2.5%重合误差）；模拟输出：4mA～20mA接口；并带超标报警功能（可定制）； 报告方法：颗粒数/ml及污染度等级；输入电压：100V～265V,50Hz～60Hz；售后服务：普洛帝服务中心/中特计量检测研究院。

DEA 288 Epsilon 是耐驰公司 2012 年最新推出的一款多功能的树脂固化监测仪。仪器可配备炉体或实验室热压机，可以在加热、冷却、湿度或紫外光照射等多种条件下进行测试。借助 DEA，用户可以方便、快捷地确定材料加工的最佳工艺参数。多种多样的制样方式: DEA 的一个最大优势在于可以实现在线监测，针对实际生产工艺的样品量及几何尺寸进行检测。通过使用多种多样的传感器，可以应用于几乎所有的实际应用场合。常见的制样与测试方式有：将样品喷在传感器上成一薄层 使用画刷将样品刷在传感器上 对于中、低粘度材料，可直接倒在传感器上，使其流动展开成一个薄层 将传感器置于层状预浸料中间 将传感器浸入到液体样品中优化配方:在聚合物工业中，经常会添加形形色色的活性添加剂，有目的地调整材料的形态或内部结构，以期达到其最大的性能潜力。DEA 288 Epsilon 可以快速而可靠地测量加速剂、抗老化剂、抗氧剂等添加剂的有效性，以及研究填料的影响。这可以在很大程度上帮助用户缩短工艺研发过程。优化工艺参数:DEA 288 Epsilon 的 Lab 版与 Slim 版是为工业与科研院校的实验室应用而特别设计的，同时也可用于生产制造现场。DEA 288 Epsilon 由此提供了将实验室研究所得的参数直接放大到生产工艺的可能性。DEA 288 Epsilon - 技术参数:一台完整的介电分析仪，包含 DEA 主机与传感器两个部分。对于实验室应用，DEA 288 有两款稍有不同的主机可选：常规的实验室版（Lab Version），以及小型版（Slim Version）。这两种主机的电子部分完全相同，均可以控制附加的外部设备，如实验室炉体，或实验室热压机。两者之间的区别，仅在于外观尺寸，以及配备的通道数的差异。详见下表：相同点：l 频率范围：1 mHz … 1 MHzl 多通道数据采集：各通道独立，实现完全的同步操作l 最小数据采集时间： 5 msl 传感器连接：带保护的 4 线技术（对导线的热阻与热容进行补偿。这是实现精确测量的前提）DEA 288 Epsilon - 软件功能DEA 288 的测量软件为全新设计，融入 Proteus® 软件包之中，用户界面友好。软件提供了快速而方便的输入向导，便于编制所有相关的测量参数。测量参数编制界面为不同颜色的多标签页风格，方便了数据输入，且确保不会遗漏重要参数 – 不管它与样品的信息有关，还是与温度 / 时间程序、或施加的频率有关。另一非常有用的特性是，可以在测量过程中修改测量程序（频率或采样时间），并可以进行实时分析（SNAPSHOT）。Proteus® 分析软件功能强大，可以对数据进行全方位的分析。以下列出了其部分特性： DEA 变量：显示离子粘度（ion viscosity），离子电导（ion conductivity），损耗因子（loss factor），介电常数（permittivity），tgδ 对时间 / 温度的变化过程 多窗口技术 – 以多标签页切换的方式对测量数据进行清晰的显示与分析，并进行图形导出。 不同测量方法的曲线比较 – 在同一界面中可同时载入 DEA，DSC，DMA 等不同测量方法得到的曲线，进行综合的分析与展示，以实现多方位的材料表征。 可在曲线上标注峰值点，外推起始点，终止点等特征温度 / 时间点。 对最多64条曲线进行比较分析。这些曲线可来自同一测量文件的不同段、或来自多个不同的测量中。 保存分析结果与标注状态，用于后续的恢复与继续分析。 保留原始的测量数据，可随时进行存取。 测量曲线可使用不同的平滑因子进行平滑。 支持文本数据导出（ANSI, ASCII, csv），与图形文件导出（JPEG, BMP, EMF, PNG, TIFF）。

北京京科瑞达提供安捷伦液相色谱仪维修服务，如岛津10系列/20系列，安捷伦1100/1200/1260等系列的模块，沃特世 Alliance/Acuity/Breeze等系列的模块，戴安Ultimate 3000 系列的模块。提供各品牌二手液相色谱仪维修、保养及二手仪器翻新服务！在二手安捷伦1200液相色谱仪系列快速高分离 lc 系统，与常规 hplc 相比，在没有牺牲分辨率、精密度和灵敏度的前提下，分析速度提高20倍，高分辨率提高60%。安捷伦1200液相色谱仪系列快速高分离液相系统可提供zui快分析速度、zui高分辨率，同时zui大限度地保持系统低压力而设计的。因此，它保留了常规 hplc 仪器和方法的耐用性和工作原理。这种独特的设计使1200 rrlc成为了一种通用的液相分析流速范围适合的柱尺寸从1 到4.6-mm id, 10 到 300-mm 柱长，粒度1.5到 10 μm。安捷伦二手液相色谱仪1200产品技术参数：方便地利用四种溶剂进行等梯度或梯度分析，适用于方法快速开发和快速配备流动相，以及冲洗 hplc 系统 。流量范围宽，zui高流速 10 ml/min ，延迟体积 800-1100 μl，适用于微径柱、标准柱和半制备应用。通过 instant pilot 组件或安捷伦化学工作站或 ezchrom 软件，可以容易地进行编程和控制。包含微量真空脱气机，脱气效率高，实现了操作无障碍和zui高性能，完全不需要通氦气直接从前面板快速更换维护部件通过自我诊断、内置日志和预编程的测试方法，快速判断问题早期维护反馈 （emf） 长期不间断地监测仪器使用和用户预设的限度，一旦超出限度，将提供反馈信息在所有安捷伦 1200 系列 hplc 组件范围内可升级和扩展。 安捷伦液相色谱仪维修内容包括：1.仪器整体清洁除尘在长时间的使用后，仪器内部布满了厚厚的灰尘，不定期清理可能会导致仪器种种故障。我们会打开每个液相模块的外壳，对内部进行彻底的清理，清理以后内部焕然一新。2.针对泵的维护泵给系统提供持续稳定的流量，流量jing准，压力稳定是保证实验结果准确的重要指标。清洗溶剂过滤器● 清洁泵头，检查柱塞杆● 压力测试和泄漏测试。这是检查泵工作情况的两项非常严格的测试，可以检查泵的密封性以及各个单向阀的工作情况。● 根据测试结果，对泵进行维修，保证测试沟通过。可能需要更换柱塞密封圈以及单向阀。● 检查比例阀的工作情况。3.针对自动进样器的维护自动进样器常见的问题针座漏液，开机自检不过（提示马达过热），抓瓶不稳等等。这些问题常常都是维护工作不到位的结果。所以针对这些常见问题，我们做以下的工作：● 对进样器的传动装置进行清洁和润滑。● 检查小爪，可能需要更换绿色小帽。● 检查针座，可能需要更换针座。4.针对紫外检测器的检查和维护一般来说，在液相1100/1200使用几年之后，随着光路的老化，都逐渐出现基线噪音和漂移变大，灵敏度 降低的情况。这时候强度测试一般都无法通过。到后来要解决问题，厂家就一般建议更换光路了。针对紫 外检测器可能出现的这些问题，我们做以下的工作：● 拆开光路，对每个反射镜和光栅进行仔细清洁。● 做紫外检测器强度测试，一般情况下，光路清洁后，强度都能提高数倍，几乎达到仪器新安装的水平。● 有些反射镜和光栅由于老化严重，清洁后效果不明显，可能需要更换。● 清洁流通池。可能需要更换流通池前后的塑料垫片。5.针对柱温箱的检查和维护进行升温测试。6.针对仪器出现的其他问题进行维修可能平时试用过程中还有一些小问题，可能不太影响使用但是还是需要解决，比如有些开关无法弹起，泵噪音大等等。我们都会帮您解决，如果有需要更换备件的，会先跟您沟通，看是否需要继续维修。7.针对仪器状况，给出维护报告并跟用户沟通仪器状况维护的结果，就是仪器从内到外焕然一新，不仅所有尘土和污渍一扫而光，仪器的性能更是得到了巨大的提高，从稳定的压力，精确的梯度，流畅工作的机械手臂到清洁高效的光路，都为您的试验结果提供更放心的保障。 仪器维修、保养、移机服务所涵盖的仪器类别仪器维修、保养、移机服务流程

高温介电测试系统整合了LCR测试仪、温度控制、软件控制和自动多样品测试夹具等。可在高达800℃的条件下测量各种介电、铁电和压电材料的电容、介电常数、介电损耗等，以及这些参数与温度和频率的相关性。测试系统功能及配置： -温度范围：RT~800摄氏度[up to 1000C possible] -测量电容、介电常数和损耗因子 -介电材料阻抗与温度和频率的相关性 -低阻抗屏蔽测试夹具支持多大5个样品 -系统包括高温炉、夹具、Agilent LCR meter 4284A, or E4980AL LCR Meter (or others)、笔记本带测试软件、连接电缆所有高温相关连接带陶瓷绝热 -频率范围：20 Hz to 1 MHz (4TP shielded connections)，with Agilent 4284 LCR meter. Also work with other meters (Keysight E4980AL, 4294A etc.) -灵敏度：介电损耗因子tand 0.1% -多样品测试：一次温控过程中，可自动切换测试多达4个样品 -高温铂片接地电极 -弹性铂探针，压力可调（以保护软polymer样品） -DC电压: up to 4000V(based on request)

GB1409介电常数测试仪正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。d．消耗功率：约25W；e．净重：约7kg；f. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。特点：1 优化的测试电路设计使残值更小2 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术3 LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换4 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）电感：线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值 9 100KHz 98 9.4 25mH 8 400KHz 138 11.4 4.87mH 7 400KHz 202 16 0.99mH 6 1MHz 196 13 252μH 5 2MHz 198 8.7 49.8μH 4 4.5MHz 231 7 10μH 3 12MHz 193 6.9 2.49μH 2 12MHz 229 6.4 0.508μH 1 25MHz，50MHz 233，211 0.9 0.125μH频率覆盖范围AC频率范围10kHz～60MHz0.1～160MHzCH110～99.9999kHz0.1～0.999999MHzCH2100～999.999kHz1～9.99999MHzCH31～9.99999MHz10～99.9999MHzCH410～60MHz100～160MHz频率指示误差3×10-5±1个字高频介电常数测试仪介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角（功率因数角Φ）的余角δ称为介质损耗角。损耗因子也指耗损正切，是交流电被转化为热能的介电损耗（耗散的能量）的量度，一般情况下都期望耗损因子低些好A/C高频Q表能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。 A型高频Q表和C型高频Q表主要区别AC测试频率范围25kHz～60MHz100kHz～160MHz主调电容控制传感器步进马达电容搜索无有

安捷伦HP-5890气相色谱仪（85成新） 配置如下： 1、FID氢火焰离子化检测器 2、FPD火焰光度检测器 3、毛细管进样系统，分流/不分流功能 4、配置中文版色谱工作站 5、30m毛细管色谱柱1根 售价：电议，保修三个月

一、产品概述：GBT1409介电常数测试仪-ASTM D150介电常数测试仪采用数字液晶显示，是通过GB1409中的Q表法测试固体/液体绝缘材料介电常数及介质损耗因数的分析仪器。它以单片计算机控制仪器，测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测试点自动设定、谐振点自动搜索、Q值量程自动转换、数值显示等新技术，北京航天纵横检测仪器改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低值，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量时更为精确。可直读介电常数及介质损耗结果，免去人工计算的繁琐。经过新升级可通过上位机软件查看测试曲线，北京航天纵横仪器是代替进口设备的产品。北京航天纵横检测仪器器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。产地北京房山。二、技术特性：序号项目参数1DDS数字合成信号50KHz-160MHz-ZJD-C2信号源频率覆盖比1600:13信号源频率精度6位有效数3×10-5 ±1个字4Q测量范围/Q分辨率1-1000自动/手动量程；4位有效数,分辨率0.15Q测量工作误差5%6电感测量范围/分辨率1nH-140mH 4位有效数,分辨率0.1nH7电感测量误差5%8调谐电容主电容17-240pF9电容直接测量范围1pF～25nF10调谐电容误差/分辨率±1pF或1% / 0.1pF11谐振点搜索自动扫描12Q合格预置范围5-1000声光提示13Q量程切换自动/手动/北京航天纵横14LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct波段等15新增功能自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能16新增功能大电容值直接测量显示功能，测量值可达25nF17消耗功率约25W二、符合标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法；GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法； 三、产品特点：1、双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2、双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3、双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4、自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5、全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6、DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7、计算机自动修正技术和测试回路优化—使测试回路 残余电感减至低值，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。8、新增功能：电感测试时，仪器自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能。大大提高了在电感值（特别是小电感值）测量时的精度。此技术只有北京航天纵横检测仪器生产的Q表有。9、新增功能：大电容值直接测量显示功能，电容值直接测量值可达25nF（配100uH电感时）。大电容值测量一个按键搞定。此技术只有北京航天纵横检测仪器生产的Q表有。四、工作环境：1、环境温度：0℃～+40℃；2、相对湿度：80％；3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。五、配置清单：序号配置数量/单位1航天纵横仪器主机一台2电感九只3夹具一套4液体杯一个5电源线一根6数据线一根7说明书一份8合格证一份9保修卡一张六、适用单位：该仪器可以用于科研机关，学校，例如一些科研院所，大专院校或计量测试部门的实验室需要用介电常数仪对绝缘材料的介质损耗角正切tanδ及介电常数进行测试；北京航天纵横检测仪器同时也适用于工厂或单位，例如一些工厂对无机非金属新材料性能的应用进行研究，另外在电力、电工、化工等领域，如：电厂、电业局实验所、变压器厂、电容器厂、绝缘材料厂、炼油厂等单位对固体及液体绝缘材料的介质损耗和相对介电常数ε的质量检测等等。七、试验步骤：1、按照Q表的操作规程调整仪器，选定测量频率，测定C1和Q1的值。2、将试样放入测试电极中，并调节电容器C，使电路谐振，达到最大Q值记下调谐电容量C2和Q2的值。3、将试样从测试电极中取出，调节C或测试电极的距离，使电路重新谐振，记下C、或测试电极的校正电容值与Q值，北京航天纵横检测仪器并根据测试值计算出损耗角tanδ与介电常数ε。4、其他高频测试仪器按其北京航天纵横检测仪器说明书进行操作，通过测试值计算出损耗角tanδ和介电常数ε。八、试验条件：1、试样表面应清洁、平滑，无裂纹、气泡和杂质等，试样表面应用蘸有无水乙醇的布擦洗。2、试样应在标准实验室温度及湿度下至少调节24h。3、当试样处理有特殊要求时，可按其产品标准规定的进行。九、测试意义：1、介电常数——绝缘材料通常以两种不同方式来使用，即（1）用于固定电学网络部件，同时让其彼此以及与地面绝缘；（2）用于起到某一电容器的电介质作用。在第一种应用中，通常要求固定的电容尽可能小，同时具有可接受且一致的机械，化学和耐热性能。北京航天纵横检测仪器因此要求电容率具有一个低值。在第二种应用中，要求电容率具有一个高值，以使得电容器能够在外型上能尽可能小。有时使用电容率的中间值来评估在导体边缘或末端的应力，以将交流电晕降至最小。2、交流损耗——对于这两种场合（作为电学绝缘材料和作为电容器电介质），交流损耗通常必须是比较小的，以减小材料的加热，同时将其对网络剩余部分的影响降至最小。在高频率应用场合，特别要求损耗指数具有一个低值，因为对于某一给定的损耗指数，电介质损耗直接随着频率而增大。北京航天纵横检测仪器在某些电介质结构中，例如试验用终止衬套和电缆所用的电介质，通常电导增加可获得损耗增大，这有时引入其来控制电压梯度。在比较具有近似相同电容率的材料时或者在材料电容率基本保持恒定的条件下使用任何材料时，这可能有助于考虑耗散因子，功率因子，相位角或损耗角。3、相关性——当获得适当的相关性数据时，耗散因子或功率因子有助于显示某一材料在其它方面的特征，例如电介质击穿，湿分含量，固化程度和任何原因导致的破坏。然而，由于热老化导致的破坏将不会影响耗散因子，除非材料随后暴露在湿分中。北京航天纵横检测仪器当耗散因子的初始值非常重要的，耗散因子随着老化发生的变化通常是及其显著的。十、典型用户及其它产品：沧州大化集团ZJC-50kV电压击穿试验仪中国计量大学ZST-212体积表面电阻率测试仪河南平煤神马聚碳材料有限责任公司ZJD-C介电常数介质损耗测试仪温州市鹿城区科学技术局ZDH-20KV耐电弧试验仪东莞初创应用材料有限公司LDQ-5漏电起痕试验仪北京航空航天大学XRW-300HB热变形维卡温度测定仪中国科学技术大学XNR-400H熔体流动速率测定仪惠州市杜科新材料有限公司JF-6氧指数测定仪宁波东烁新材料科技有限公司CZF-5水平垂直燃烧试验机云南能投硅材科技发展有限公司WDW-50KN材料电子拉力试验机 沧州大化集团中国计量大学河南平煤神马聚碳材料有限责任公司温州市鹿城区科学技术局东莞初创应用材料有限公司北京航空航天大学中国科学技术大学惠州市杜科新材料有限公司宁波东烁新材料科技有限公司云南能投硅材科技发展有限公司天津科技大学十一、相关产品：ZJC-50kV电压击穿试验仪ZST-212体积表面电阻率测试仪ZJD-C介电常数介质损耗测试仪ZDH-20KV耐电弧试验仪LDQ-5漏电起痕试验仪XRW-300HB热变形维卡温度测定仪XNR-400H熔体流动速率测定仪JF-6氧指数测定仪CZF-5水平垂直燃烧试验机WDW-50KN材料电子拉力试验机介质损耗角正切的测量如前所述，介质损耗角正切tanδ是在交流电压作用下，电介质中电流的有功分量与无功分量的比值，它是一个无量纲的数。在一定的电压和频率下，它反映电介质内单位体积中能量损耗的大小，它与电介质的体积尺寸大小无关。因此，能从测得的tanδ 数值直接了解绝缘情况。介质损耗角正切tanδ的测量是判断绝缘状况的一种比较灵敏和有效的方法，从而在电气设备制造、绝缘材料的鉴定以及电气设备的绝缘试验等方面得到了广泛的应用，特别对受潮、老化等分布性缺陷比较有效，对小体积设备比较灵敏，因而tanδ的测量是绝缘试验中一个较为重要的项目。如果绝缘内的缺陷不是分布性而是集中性的，则用测tanδ值来反映绝缘的状况就不很灵敏，被试绝缘的体积越大，越不灵敏，因为此时测得的tanδ反映的是整体绝缘的损耗情况，而带有集中性缺陷的绝缘是不均匀的，可以看成是由两部分介质并联组成的绝缘，其整体的介质损耗为这两部分损耗之和，即或 得 且 若整体绝缘中体积为V2的一小部分绝缘有缺陷，而大部分良好的绝缘的体积为V1，即V2&nLt V1，则得C2&nLt C1，C≈C1)，于是 （3-3）由于式(3-3)中的系数很小，所以当第二部分的绝缘出现缺陷，tanδ增大时，并不能使总的tanδ值明显增大。只有当绝缘有缺陷部分所占的体积较大时，在整体的tanδ中才会有明显的反映。例如在一台110kV大型变压器上测得总的tanδ为0.4%，是合格的，但把变压器套管分开单独测得tanδ达3.4%就不合格。所以当变压器等大设备的绝缘由几部分组成时，最好能分别测量各部分的tanδ，以便于发现绝缘的缺陷。电机、电缆等设备，运行中的故障多为集中性缺陷发展造成的，用测tanδ的方法不易发现绝缘的缺陷，故对运行中的电机、电缆等设备进行预防性试验时，不测tanδ。而对套管绝缘，因其体积小，故tanδ测量是一项必不可少且较为有效的试验。当固体绝缘中含有气隙时，随着电压的升高，气隙中将产生局部放电，使tanδ急剧增大，因此在不同电压下测量tanδ，不仅可判断绝缘内部是否存在气隙，而且还可以测出局部放电的起始电压U0，显然U0的值不应低于电气设备的工作电压。在用tanδ 值判断绝缘状况时，除应与有关标准规定值进行比较外，同样必须与该设备历年的tanδ值相比较以及与处于同样运行条件下的同类型其他设备相比较。即使tanδ值未超过标准，但与过去比较或与同样运行条件下的同类型其他设备比，tanδ值有明显增大时，必须要进行处理，以免在运行中发生事故。一、QS1型电桥原理在绝缘预防性试验中，常用来测量设备绝缘的tanδ值和电容C值和方法是采用QS1电桥(平衡电桥)，其原理接线图如图3-4所示。它有四个桥臂组成，臂1为被试品Zx，图中用CX及RX的并联等值电路来表示；臂2为标准无损电容器CN，一般为50pF，它是用空气或其他压缩气体作为介质(常用氮气)，其tanδ值很小，可认为零；臂3、4为装在电桥本体内的操作调节部分，包括可调电阻R3、可调电容C4及与其并联的固定电阻R4。外加交流高压电源(电压一般为10kV)，接到电桥的对角线CD上，在另一对角线AB上则接上平衡指示仪表G，G一般为振动式检流计。进行测量时，调节R3、C4，使电桥平衡，即使检流计中的电流为零，或UAB为零，这时有 (3-4)将上述阻抗值代入式(3-4)，并使等式左右的实数部分和虚数部分分别相等，即可求得 (3-5)因tanδ很小，tan2δ&nLt 1，故得 （3-6）由于我国使用的电源频率为50HZ，故ω=2Πf=100Π,为了便于读数，在电桥制造时常取R4=104/Π=3184Ω，因此 （3-7）这样，当调节电桥平衡时，在分度盘上C4的数值就直接以tanδ(%)来表示，读取数值极为方便。为了避免外界电场与电桥各部分之间产生的杂散电容对电桥产生干扰，电桥本体必须加以屏蔽，如图3-4中的虚线所示。由被试品和标准无损电容器连到电桥本体的引线也要使用屏蔽导线。在没有屏蔽时，出高压引线到A、B两点间的杂散电容分别与CX与CN并联(见图3-4)，将会影响电桥平衡。加上屏蔽后，上述杂散电容变为高压对地的电容，与整个电桥并联，就不影响电桥的平衡了。但加上屏蔽后，屏蔽与低压臂3、4间也有杂散电容存在，如果要进一步提高测量的标准度，必须消除它们的影响，但在一般情况下，由于低压臂的阻抗及电压降都很小，这些杂散电容的影响可以忽略不计。二、接线方式用国产QS1型电桥测量tanδ时，常有两种接线方式。1.正接线图3-4所示接线方式中，电桥的C点接到电源的高压端，D点接地，这种接线称为正接线。此种接线由于桥臂1及2的阻抗ZX和ZN的数值比Z3和Z4大得多，外加高电压大部分降落在桥臂1及2上，在调节部分R3及C4上的电压降通常只有几伏，对操作人员没有危险。为了防止被试品或标准电容器一旦发生击穿时在低压臂上出现高电压，在电桥的A、B点上和接地的屏蔽间接有放电管F，以保证人身和设备的安全。正接线测量的准确度较高，试验时较安全，对操作人员无危险，但要求被试品不接地，两端部对地绝缘，故此种接线适用于试验室中，不适用于现场试验。2.反接线现场电气设备的外壳大都是接地的，当测量一极接地的试品的tanδ时，可采用如图3-5所示的反接线方式，即把电桥的D点接到电源的高压端，而将C点接地，在这种接线中，被试品处于接地端，调节元件R3、C4处于高压端，因此电桥本体(图3-4虚线框内)的全部元件对机壳必须具有高绝缘强度，调节手柄的绝缘强度更应能保证人身安全，国产便于携带式QS1型电桥的接线即属这种方式。三、干扰的产生与消除在现场测量tanδ时，特别是在110kV及以上的变电所进行测量时，被试品和桥体往往处在周围带电部分的电场作用范围之内，虽然电桥本体及连接线都采用了前面所述的屏蔽，但对被试品通常无法做到全部屏蔽，如图3-6所示。这时等值干扰电源电压U´ 就会通过与被试品高压电极间的杂散电容C´ 产生干扰电流I´ ，因而影响测量的准确。当电桥平衡时，流过检流计的电流IG=0，此时检流计支路可看作开路，干扰电流I´ 在通过C´ 以后分成两路，一路经CX入地，另一路经R3及试验变压器的漏抗入地，由于前者的阻抗远大于后者，故可以认为I´ 实际上全部流过R3。在没有外电场干扰的情况下，电桥平衡时流过R3的电流即为流过被试品的电流IX，相应的介质损耗角为δX，如图3-7所示。有干扰时，由于干扰电流流过R3，改变了电桥的平衡条件，这时要电桥平衡就必须把R3和C4调整到新的数值。由于C4值的改变，测得的损耗角δ´ X已不同于没有下扰时的实际损耗角δX了，因此对流过R3的电流已变成，即相当于在上叠加一个干扰电流、与的夹角就是。同时R3值的改变也引起了测得的CX值改变。引起tanδ和CX测量值的变化将随的数值和相位而定。在干扰源固定时，的相量端点的轨迹为一圆。在某些情况下，当干扰结果使的相量端点落在图3-7 所示的阴影部分的圆弧上时，tanδ值将变为负值，这时电桥在正常接线下已无法达到平衡，只有把C4从桥臂4换接到桥臂3与R3并联，才能使电桥平衡，并按照新的平衡条件计算出tanδ值。当的相量端点落在图3-7中的A、B点时，即干扰电流与同相或反相时，tanδ值不变，但此时的IX值变大或变小，将引起测得的CX值变大或变小。为了避免干扰，消除或减小由电场干扰所引起的误差，可采用下列措施。1.尽量远离干扰源在无法远离干扰源时，加设屏蔽，用金属屏蔽罩或网将被试品与干扰源隔开，并将屏蔽罩与电桥的屏蔽相连，以消除C´ 的影响，但这往往在实际上不易做到。2.采用移相电源由图3-7可看出，在有干扰的情况下，只要使与同相或反相，测得的tanδ值不变，干扰电流的相位一般是无法改变的，但可以改变电源电压从而改变的相位以达到上述目的。应用移相电源消除干扰时，在试验前先将Z4短接，将R3调到最大值，使干扰电流尽量通过检流计(因其内阻很小)，并调节移相电源的相角和电压幅值，使检流计指示达最小，这表明与相位相反，移相任务已经完成，即可退去电源电压，保持移相电源相位，拆除Z4间的短接线，然后正式开始测量。若在电源电压正、反相二种情况下测得的tanδ值相等，说明移相效果良好，此时测得的tanδ为真实值。但正、反相两次所测得的电流分别为和，故，因此，被试品电容的实际值应为正、反相两次测得的平均值。用移相法基本上可以消除同频率的电场干扰所造成的测量误差。3.采用倒相法倒相法是一种比较简便的方法。测量时将电源正接和反接各测一次，得到二组测量结果tanδ1、C1和tanδ2、C2，然后进行计算求得tanδ值和CX值。图3-8表示被试品电流和干扰电流的相量图。在图中，当电源反相时，实际上就相当于把干扰电流反相变成'而其余相量不动，故在图中用反相的代替反相的，这样使分析比较方便，而其结果是一样的。由图3-8中可看出由于，，代入上式可得 (3-8)又因 故得 （3-9）应用式(3-8)和式(3-9)可以正确地计算出tanδ值和CX值。当干扰不大，即tanδ1与tanδ2相差不大、C1与C2相差不大时，式(3-8)可简化为 (3-10)即可取两次测量结果的平均值，作为被试品的介质损耗角正切值。在现场进行测量时，不但受到电场的下扰，还可能受到磁场的干扰。一般情况下，磁场的干扰较小，而且电桥本体都有磁屏蔽，CX及CN的引线虽较长，但其阻抗较大，感应弱时，不能引起大的干扰电流。但当电桥靠近电抗器等漏磁通较大的设备时，磁场的干扰较为显著。通常，这一干扰主要是由于磁场作用下电桥检流计内的电流线圈回路所引起的。可以把检流计的极性转换开关放在断开位置，此时如果光带变宽，即说明有此种干扰。为了消除干扰的影响，可设法将电桥移到磁场干扰范围以外。若不能做到，则可以改变检流计极性开关进行两次测量，用两次测量的平均值作为测量结果，以减小磁场干扰的影响。四、测量 tanδ时的注意事项(1)无论采用何种接线方式，电桥本体必须良好接地。(2)反接线时，三根引线均处于高压，必须悬空，与周围接地体应保持足够的绝缘距离。此时，标准电容器外壳带高电压，也不应有接地的物体与外壳相碰。(3)为防止检流计损坏，应在检流计灵敏度最低时接通或断开电源。(4)在体积较大的设备中存在局部缺陷时，测量总体的tanδ 不易反映；而对体积较小的设备就比较容易发现绝缘缺陷，为此，对能分开测量的试品应尽量分开测量。(5)一般绝缘的tanδ均随温度的上升而增大。各种试品在不同温度下的tanδ值也不可能通过通用的换算式获得准确的换算结果。故应争取在差不多的温度下测量tanδ值，并以此作相互比较。通常都以20℃时的值作为标准(绝缘油例外)。为此，一般要求在10～30℃的范围内进行测量。(6)试验时被试品的表面应当干燥、清洁，以消除表面泄漏电流的影响。(7)在进行变压器、电压互感器等绕组的tanδ值和电容值的测量时，应将被试设备所有绕组的首尾短接起来，否则会产生很大的误差。

产品简介室内宽范围气溶胶光谱仪组合两种粒子计数和分类技术:扫描迁移率粒度仪(SMPS+C用于纳米颗粒的丁醇缩合粒子计数器便携式光学气溶胶光谱仪(11-D)为尘埃颗粒。该系统可用于精确和高分辨率测量整个粒度范围从5 nm到35 μm的31个尺寸通道，用于11-D和用户可选择SMPS+C的通道数。该系统操作简单，适用于各种场合气溶胶的研究。测量原理DMA（Differential Mobility Analyzer）差分粒子电迁移器对颗粒物进行分类，喷嘴将粗的颗粒去除，减少大颗粒的干扰；同时建议前置个静电中和器，消除对电荷对气溶胶颗粒的影响。顶端入口U型设计，可减少颗粒损失；顶端层流器，使气流呈层流状态流动。洁净干燥的鞘气与样气气流一起自上而下流动。DMA的外套筒接地，中心极杆接正压高压发生器。环境颗粒中带负电荷的颗粒将在外套筒与中心极杆之间的电场中发生迁移。在某一电压下(对应一定的电场强度)，具有一定荷质比的负电颗粒将迁移至DMA下端狭缝而逸出，其余荷质比及其电中性、正电荷颗粒将随过剩气流被过滤排出。经由狭缝逸出的颗粒为单分散气溶胶颗粒，进入CPC凝聚核粒子计数器（Condensation Particle Counters）对颗粒物进行计数。仪器特征实时监测整个粒径范围在低浓度和高浓度下，CPC和OPC具有高精度极好的计数统计和再现性低扩散损耗自检所有光学和气动元件为高质量标准仪器参数安全，防止数据丢失应用监测超细颗粒和粉尘N气溶胶科学N工作场所监控

美国PolyK Technologies公司基于改进优化的动态Sawyer-Tower电路开发的该系统，广泛用于测量介电和铁电材料的电荷密度与电场及频率的关系；系统特点：1）整合了系统保护电路：当试样在高压测试发生击穿时，可有效的保护测试系统；2）配合Trek高压放大器执行测试时，高压10kV,并且频率可达1000Hz,模式可达300kHz；3）高压击穿测试可在AC、DC或者Field endurance life模式下测试，而且只需简单的切换信号连接即可；4）自动铁电性能测试直至介电击穿发生；5）对于介电材料充放电测试，软件能自动给出充电能量密度和放电能量密度，以及充放电效率；6）对于寿命循环测试（DC模式或者AC模式），系统会自动生成测试总结文件；7）独特的夹具设计，确保即使测试软的高分子介电材料也不会损伤样品；8）基于LabView设计的功能强大的软件系统，用户可方便地控制电压、信号波形（三角波、正弦波、Unipolar、Bipolar和Arbitrary）和频率；技术规格：1）内置电压：±100V or ±200V放大器2）电压放大器10kV to 30kV3）电荷：1nC to 1mC(取决于放大器输出)4）测试频率：0.01Hz to 1000Hz, or 10kHz, or 300kHz.5）压电应变测量选件：Fotonic Sensor 10nm分辨率 或者磁电传感器；6）高压变温测试选件：-184℃ to 250℃；测试功能：1）DHM测量：Dynamic Hysteresis measurement 2）PM测量：PUND measurement 3）SHM测量：Static hysteresis measurement 4）FM测量：Fatigue measurement 5）RM测量：Retention measurement 6）IM测量：Imprint measurement7）漏电流测量：Leakage Current measurement(可选)8）热释电测量：Pyroelectric measurement（可选）欢迎垂询！