金属层量仪

ANDalyze便携式重金属测量仪可测量饮用水、地表水和工业废水中可溶性的重金属含量，包含铜、铅、汞、镉、铀和锌等。 DNA酶测试技术ANDalyze独有的DNA传感器在接触目标污染物（比如铅）时存在时会产生荧光。荧光计检测产生荧光的强度以测定待测重金属的浓度，并给出ppb或ppm为单位的测试结果。测试方法是取1毫升的水样，通过传感器注射到荧光计内的比色皿中，荧光计在一分钟内自动完成分析并给出待测物浓度。 赢得美国环保局(EPA)奖项ANDalyze手持式测试技术可在几十秒内在现场对重金属污染物完成准确的测试分析，符合美国的EPA测试标准。这是一种具有突破性的产品，它高效、准确和使用方便，不需要特别的专业技能或化学知识便能熟练操作。它不含任何有害有害材料或副作用。此外，该产品通过简化测试过程可降低测试费用。 功能特点：? 操作简单——非专业人员也能熟练操作? 高灵敏性和选择性——低ppb级测量范围? 扩展性强——单台主机可测量多个重金属参数? 一分钟测试——快速、简洁的菜单显示，一键启动样品分析? 荧光传感器——通过DNA酶反应产生定量荧光给出结果? 传感器测试包——不同颜色标记的传感器可测试不同的重金属，测试包标配所有需要的备件? 数据采集与报告——测量结果带日期、时间及地点。可通过USB数据线下载数据及充电? 零维护及安全性——CE认证，保护等级IP54。并可通过USB数据线从网上进行免费下载软件升级? 视频培训——主机上可观看教学培训视频，无需培训文档? 支持多语言——可选择中文操作界面? 环保——不含有毒有害试剂，废弃物无需特殊处理 测量参数及范围金属参数量程金属形态颜色标记铅2 - 100 ppbPb2+绿（参考下图给每个颜色加底色）铜（高量程）0.6 - 3 ppmCu+/Cu2+蓝铜（低量程）40 - 200 ppbCu+/Cu2+蓝铀2 - 60 ppb四价铀，UO22+橙汞2 ppb (阴性/阳性)Hg2+银灰锌1 - 15 ppmZn2+白镉0.1 - 1 ppmCd2+黄即将推出 铬，砷，及其它测试包 订货指南订货号描述AND002AND1100便携式重金属测量仪AND010铅套装（25次），范围：2 ~ 100 ppb Pb2+AND011铀套装（25次），范围：2 ~ 60 ppb UO2+AND012铜（低浓度）套装（25次），范围：40 ~ 200 ppb Cu2+AND013铜（高浓度）套装（25次），范围：0.6 ~ 3.0 ppm Cu2+AND014汞套装（25次），阳性表示水样中汞浓度大于2ppb，阴性表示汞浓度低于2ppbAND015锌套装（25次），范围：1 ~ 15 ppm Zn2+AND016镉套装（25次），范围：0.1 ~ 1.0 ppm Cd2+AND900过滤套装（25次），包含针头过滤器、20mL注射器、50mL样品试管，操作手册AND901稀释套装（25次），包含5mL固定式移液器，5mL移液枪头，50mL样品试管，操作手册AND902铁离子干扰屏蔽套装，铁浓度较高30ppb时使用AND903pH调节套装

金属镀层测厚仪镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。本产品适用于各种镀铝薄膜、镀铝纸测试电阻值、均匀度、厚度值的测试。 技术特征 微电脑控制、LCD液晶显示、PVC操作面板，方便用户快速、直观的查看检测数据和结果 配置微型打印机，快速打印方块电阻值、厚度值、均匀度 数据实时显示电阻值、厚度值 试验结果记忆功能,方便用户查询 温度显示功能 高精度接触式测量 试验步骤1.将金属镀层测量仪与试样放置在GB2918规定的23±2℃.，45%-55%RH环境中放置4h后测量。2.每次测量前用无水乙醇擦拭仪器的测量头。3.将试样平放在测量仪的橡胶板上，使测量头与金属镀层接触良好。4.每次测量前仪器必须校零。5.测量试样的电阻值。测试的实验结果自动显示打印金属镀层的方块电阻、金属镀层厚度和均匀度。 技术参数 厚度测量范围 厚度50-570&angst 方块电阻测量范围 0.5-5Ω 方块电阻测量误差 ±1% 样品尺寸 100×100mm 夹样精度 ±0.1mm 测温范围 0～50℃，精度±1℃ 外形尺寸 370mm×330mm×450mm （长宽高） 重 量 19kg 工作温度 23℃±2℃ 相对湿度 高80%,无凝露 工作电源 220V 50Hz 参照标准 GB/T 15717 产品配置 主机、微型打印机金属镀层测厚仪 此为广告

镀铝层厚度测量仪金属镀层测厚仪是一种用于精确测量金属镀层厚度的仪器，它对于镀铝膜、真空镀膜、镀铝纸等材料的质量控制具有重要意义。该仪器采用电阻法作为检测原理，通过测量电阻值的变化来推算金属镀层的厚度。 金属镀层测厚仪主要由测量探头、测量电路和数据处理系统三部分组成。测量探头通过与被测样品表面接触来获取电阻值，其内部结构通常包括一对电极和测量线路，用于测量样品的电阻值。测量电路则将探头测得的电阻值转化为可读的数据，并将其传输到数据处理系统进行处理。 在测量镀铝膜、真空镀膜和镀铝纸等材料时，金属镀层测厚仪能够对其表面和底层的电阻值进行精确测量。由于不同金属材料的电阻率不同，因此可以通过测量电阻值的变化来推算金属镀层的厚度。具体来说，金属镀层测厚仪会根据样品的电阻值变化来计算出金属镀层的厚度，并将结果以数字或图表的形式显示出来。 金属镀层测厚仪具有高精度、高分辨率和高灵敏度的优点，能够准确地测量出金属镀层的厚度，从而为生产厂家提供可靠的质量保证。同时，该仪器还具有操作简单、使用方便的特点，能够满足工业生产中对快速、简便测量的需求。 金属镀层测厚仪的优点还包括其非破坏性测量方式，即不会对被测样品造成损害。这使得生产厂家可以在生产过程中进行在线测量，及时发现并解决问题，大大提高了生产效率和产品质量。此外，金属镀层测厚仪还可以通过计算机接口实现数据共享和远程控制，提高了测量的自动化程度和便捷性。 金属镀层测厚仪是一种高精度、高分辨率、高灵敏度的仪器，采用电阻法检测原理，能够准确地测量出镀铝膜、真空镀膜、镀铝纸等材料金属镀层的厚度。它具有操作简单、使用方便和非破坏性测量等优点，适用于工业生产中的在线测量，能够提高生产效率和产品质量。 技术参数 厚度测量范围 厚度50-570&angst 方块电阻测量范围 0.5-5Ω 方块电阻测量误差 ±1% 样品尺寸 100×100mm 夹样精度 ±0.1mm 测温范围 0～50℃，精度±1℃ 外形尺寸 370mm×330mm×450mm （长宽高） 重 量 19kg 工作温度 23℃±2℃ 相对湿度 80%,无凝露 工作电源 220V 50Hz 镀铝层厚度测量仪此为广告

堆焊层厚度测量仪 堆焊层是指用以保护构件表面不遭腐蚀或其他损伤的金属包层。化工设备中用得*广泛的是用焊接方法(如带极堆焊)将耐腐蚀的奥氏体不锈钢堆焊在设备的内表面。例如尿素合成塔内壁堆焊层采用超低碳含钼奥氏体不锈钢，可大大减缓尿素对设备的腐蚀。 高温高压的各种加氢反应器内壁以铬镍奥氏体不锈钢堆焊，可以有效防止氢对钢材表面的高温氢腐蚀。应注意的是要有适当的开停车操作规程，以防堆焊层与基体钢材剥离。 在奥氏体不锈钢堆焊层凝固过程中 ,没有奥氏体向铁素体的相变 ,在室温下仍保留着锈态奥氏体晶粒。此奥氏体晶粒粗大 ,超声波衰减严重。堆焊层金属在冷却时 ,母材方向散热条件好 ,且奥氏体晶粒生长取向基本垂直于母材表面 ,这就给超声波测厚带来了很大的困难。 采用超声波测量堆焊层厚度主要有界面波测厚法和厚度测量法 2 种。界面波测厚法是利用界面反射回波在堆焊层中的传播时间来确定堆焊层厚度的方法。厚度测量法是利用被测基材加堆焊层的整体厚度 ,折算出堆焊层的厚度。界面波测厚法需要相同堆焊层材料的对比试块 ,且只适用于从堆焊层一侧进行测量 ,检测单位及使用单位很难做到。运用测厚仪计算加氢反应器不锈钢堆焊层厚度的方法具有简单易行、检测结果误差小的显著特点 ,不仅适用于制造中的产品检验 ,也适用于在用设备的全面检验 (可从设备外壁进行测量计算) 。 我司代理的堆焊层厚度测量仪是结合电磁法来测量堆焊层的厚度。多用于测量镍基堆焊层和不锈钢堆焊层的厚度。我们的优势如下：1. 使用电磁法测量，无需耦合剂，简便易操作，无盲区；2. 可测量的堆焊层厚度可达15mm；3. 堆焊层的材质不限于碳钢和不锈钢，可以是任何铁磁性和非铁磁性材质；4. 设备体积小，重量轻，超级便携。

非接触式薄膜方块电阻方阻测量仪昊量光电新推出用于导电薄膜和薄金属层方块电阻测量的非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪EddyCus TF Series，这款非接触式薄膜方块电阻方阻测量仪可以非接触式实时测量，对导电薄膜和金属方块电阻精确测量，表征已被隐藏和封装的导电层，并把测量数据保存和导出。 可用于方块电阻，方阻测量。非接触式方块电阻方阻测量替代四探针传统测量非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪主要测试对象：镀膜建筑玻璃，如LowE显示器，触摸屏和平板显示器OLED和LED智能玻璃石墨烯层光伏晶圆和电池半导体晶片金属化层和晶圆金属化电池电极导电涂布纸和导电纺织品非接触式单点方阻测试仪EddyCus TF Lab 2020SREddyCus TF Lab 2020SR是非接触式单点薄层电阻测量系统。该装置包含一个涡流传感器组，感应弱电流到导电薄膜和材料。非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪试样中的感应电流产生与测量对象的片电阻相关的电磁场。电涡流技术不依赖于表面特征或形貌。此外，非接触式单点方阻测试仪不需要如已知的2或4点探针测试(2PP, 4PP)或霍尔效应或范德波测量一样进行任何形式的充分的样品接触或备样。非接触式单点方阻测试仪既不需要设置测试结构，也不受表面粗糙度或非导电封装或钝化层的影响。此外，测量不会对被测薄膜产生物理影响。涡流仪器不存在机械磨损，使用寿命长。它的独立性与接触质量和它的高速允许实现高重复性和准确性，有利于在研发和测试实验室的各种薄膜的系统质量保证。EddyCus工具可以由具有各种数据记录和导出功能的SURAGUS软件驱动，也可以由SURAGUS软件开发套件驱动的客户软件驱动。非接触式单点方阻测试仪软件和设备控制：非常用户友好的软件直观的触摸显示导航实时测量板材电阻和层厚软件辅助手动映射选项各种数据保存和导出选项非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪产品规格表Measurement technologyNon-contact eddy current sensorsubstratesFoils, glass, wafer, etc.Substrate area8 inch / 204 mm x 204 mm (open on three sides)Max. sample thickness / sensor gap3 / 5 / 10 / 25 mm (defined by the thickest sample)Thickness measurement range of metal films (e.g. copper)2 nm – 2 mm (in accordance with sheet resistance (cf. our calculator))Device dimensions (w/h/d)11.4” x 5.5” x 17.5” / 290 mm x 140 mm x 445 mmWeight10 kgFurther available featuresSheet resistance measurement / metal thickness monitor VLSRLSRMSRHSRVHSR6 decades are measurable by one sensor, but with slightly affected accuracyRange [Ohm/sq]0.0001 – 0.10.1 – 100.1 – 10010 – 20001,000 – 200,000Accuracy / Bias± 1%± 1 – 3%± 3 – 5%Repeatability (2σ) 0.3% 0.5% 0.3%VLSR – Very Low Sheet Resistance , LSR – Low Sheet Resistance , MSR – Medium Sheet Resistance , HSR – High Sheet Resistance , VHSR – Very High Sheet Resistanc非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪非接触式方阻成像仪EddyCus TF Map 2530SREddyCus TF Map 2530SR是一种非接触式薄层电阻映射系统。该设备配备了一个运动的涡流传感器，每次扫描可测量高达90000 (300 x 300)测量点的方块电阻。由于这种技术不需要与标本进行物理接触，该设备可以在飞行运动中进行测量。此外，非接触式单点方阻测试仪具有很高的准确性，因为它是独立于任何接触质量。非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪样品中测量点的高密度确保了没有遗漏任何效果或缺陷。此外，综合分析功能支持生产和研发实验室中各种薄膜的系统质量保证。产品规格：Measurement technologyNon-contact eddy current sensorSubstratesWafer, glass, foils etc.Max. scanning area12 inch / 300 mm x 300 mm (larger upon request)Edge effect correction / exclusion2 – 10 mm (depending on size, range, setup and requirements)Max. sample thickness / sensor gap3 / 5 / 10 / 15 mm (defined by the thickest sample)Thickness measurement of metal films (e.g. aluminum, copper)2 nm – 2 mm (in accordance with sheet resistance ())Scanning pitch1 / 2.5 / 5 / 10 / 25 mm (other upon request)Measurement points per time (square shaped samples)100 measurement points in 0.5 minutes10,000 measurement points in 3 minutesScanning time8 inch / 200 mm x 200 mm in 1 to 10 minutes (1 – 10 mm pitch)12 inch / 300 mm x 300 mm in 2 to 6 minutes (2.5 – 25 mm pitch)Device dimensions (w/h/d)31.5” x 19.1” x 33.5” / 785 mm x 486 mm x 850 mmWeight90 kgFurther available featuresMetal thickness imaging, anisotropy and sheet resistance sensor VLSRLSRMSRHSRVHSR6 decades are measurable by one sensor, but with slightly affected accuracyRange [Ohm/sq]0.0001 – 0.10.1 – 100.1 – 10010 – 2,0001,000 – 200,000Accuracy / Bias± 1%± 1 – 3%± 3 – 5%Repeatability (2σ) 0.5% 1% 0.5%VLSR – Very Low Sheet Resistance , LSR – Low Sheet Resistance , MSR – Medium Sheet Resistance , HSR – High Sheet Resistance , VHSR – Very High Sheet Resistance便携式方块电阻测试仪EddyCus TF便携式1010SR专用于工业环境中的接触片电阻测量。它使各种行业的手工质量保证成为可能。Measurement technologyEddy current sensorMeasurement modeRealtime at constant distance / contactSubstratesGlass, foils etc.Substrate sizesFlat samples 150 mm x 150 mm (6 inch x 6 inch)Curved editions are available for several applications (windshields etc.)Measurement spot / high sensitivity zone40 mm diameter (1.6 inch)PowerLithium ion battery up to 20 hSheet resistance range (five setups available)Type very low: 0.001 – 0.1 Ohm/sqType low: 0.04 – 0.1 Ohm/sqType standard: 0.3 – 30 Ohm/sqType high: 0.3 – 50 Ohm/sqType very high: 0.3 – 100 Ohm/sqThickness measurement of thin films (e.g. copper)Additional feature, available range is 5 nm – 500 µ m (in accordance with sheet resistance)Emissivity rangeAdditional feature, available range is 0.003 – 0.5Accuracy (for planar solid surfaces, e.g. glass)0.001 – 50 Ohm/sq: 3%50 – 100 Ohm/sq: 5%DISPlay2.8 inch colored touch screenDevice dimensions (w/h/d)3.5” x 7” x 1.9” / 87 mm x 178 mm x 48 mmWeight340 gInterfacesBluetooth (optional) + data center更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

YT-210涂层测厚仪概述无接口磁性探头，检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度(如钢、铁、合金和硬磁性钢上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等)本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。是材料保护配备的仪器。满足JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪。YT-210涂层测厚仪主要功能● 全中文菜单；● 可储存500个测量值；● 数据删除功能；● 可设置界限；● 对界限外的测量值能自动报警；● 电源欠压指示；● 手动和自动两种关机方式。● 可设置上下界限超差报警；● 电压提示，自动关机；● 大屏幕LCD背光显示，可调节对比度；● 两点校准，能提高精度。技术参数项目Leeb210测头类型F1 （不可拔插）工作原理磁感应测量范围0~1250μm低限分辨率0.1μm示值误差一点校准±（3%H+1）二点校准±[（1~3%)H+1]测试条件最小曲率半径mm凸1.5mm、凹9mm最小面积直径mmΦ7基本临界厚度mm0.5mm工作环境温度0~40℃湿度20%~90%电源AAA碱性电池两节电压3VPC通讯无工作时间100小时外壳材质塑料外壳外形尺寸115×68×25mm（主机）重量150g标准配置主机、标准试片、基体、F1探头、碱性电池可选配件标准试片、探头工作原理● 本仪器采用了磁性原理的测厚方法，可测量磁性金属基体( 如铁、钴、镍 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)。A、磁性法(F型测头)：当测头与覆盖层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过其磁阻的改变量可测出覆盖层的厚度。磁性法基本工作原理测量步骤A）将测头置于开放空间，按一下开机键开机,检查电池电压。说明1：当电池符号满格显示，表示电池电压正常；电池电量小于2格时，请立即更换电池，以保证测量的准确性。 2：长期不用时应将电池取出。开机时正常情况下，开机显示界面如下图所示： “铁基体"——F型测头，测试对象为铁性基体 “A"——上次关机前的最后一次测量模式 “数值"——上次关机前的最后一次测量值B）选择适当的校准方法进行标准仪器。C）测量方法：握住滑套将测头与测试面垂直地接触，随着一声蜂鸣声，屏幕显示测量值，提起侧头可进行下次测量。D)关机：按开关机键，或者大约5分钟后仪器自动关机。 注：如果开机仪器自动测试，请按‘校零’键.并进行五试片校准。说明: 1. 如果在测量中测头没有与待测面垂直接触，可能会显示一个误差较大的测值，可以按清除键清除该值； 2.测量三次或多次后，仪器可自动对测量数据进行统计即：平均值、偏差、测量次数、最大测量值、最小测量值。产品展示

德国ZEISS公司生产的METROTOM系列工业CT,高精度工业CT断层测量机,先进的技术,工业CT价格咨询,工业CT技术服务都可以联系越联公司基于 ZEISS METROTOM 的工业计算机断层扫描（CT）工业CT，X射线工业CT断层扫描测量仪利用蔡司的工业计算机断层扫描系统，仅需一次X射线扫描，即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台，满足客户对精度的高要求。 测量与检验整体部件ZEISS METROTOM是一种用于测量和检验塑料或轻金属部件的工业计算机断层扫描测量系统。而在利用传统测量机测量时，此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。 轻松且精准地进行多样化特征检测利用ZEISS METROTOM计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常精准，且具可追溯性。和接触式测量方法不同，ZEISS METROTOM 获取海量测量点时，时间显著缩短。 直观简易的软件操作仅需通过短时间的ZEISS METROTOM OS软件培训课程，操作人员即可对零件进行扫描，透视零件的内部。利用ZEISS CALYPSO可评估CT数据，再利用ZEISS PiWeb即可快速地将两者融合于同一份测量报告中。

植物冠层分析系统 植物冠层测量仪可广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系，本仪器用于400nm－700nm波段内的光合有效辐射（PAR）测量、记录,测量值的单位是平方米秒上的微摩尔（μmol㎡/秒）。植物冠层分析系统 植物冠层测量仪功能特点植物冠层测量仪为一体化设计，包括液晶显示屏、操作按键、存储SD卡及测量探杆等。仪器菜单操作简单，体积小，携带方便。存储介质为市场上通用的SD卡，存储容量大，数据管理方便！在功耗上有合理的电源管理方案，测试过程中仪器根据实际情况自动进入待机状态，需要时按唤醒键即可唤醒屏幕，观察实际数据。测量方式分为自动和手动两种。自动测量时间间隔较小1分钟，自动测量次数较大99次，手动测量根据实际需要手动采集即可。植物冠层分析系统 植物冠层测量仪技术参数测量范围：0-2700μmol ㎡/秒 分辨率：1μmol ㎡/秒响应时间：10μs自动采集间隔：1-99分钟自动采集次数：1-99次冠层分析仪数据存储容量：2GB（标配SD卡） 仪器总长度：75 cm 探杆长度：50 cm传感器数量：25个（标配）电源：2节5号电池植物冠层分析系统 植物冠层测量仪工作环境：0°C-60°C；100%相对湿度

一．用途 植物冠层测量仪根据各种图像处理手段提取多个角度的冠层间隙率，采用装配鱼眼镜头的相机从树冠下向上拍摄冠层照片，利用间隙率参数来反演出各种冠层参数，导田园合理施肥、现代化农场高效管理提供可靠的科学依据，广泛应用于农业、林业、植物等科学研究和生产指导。 二．测试原理与方法 植物冠层测量仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。这是目前世界上各种冠层仪一致采用的原理。在上述原理下，植物冠层图象分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法，该方法是各类方法中最精确和最省力、省时、快捷方便的方法。 三.结构组成 植物冠层测量仪由鱼眼图像捕捉探头（由鱼眼镜头及CMOS图像传感器组成）、内置25个PAR传感器的测量杆（摇臂）、笔记本电脑、图像分析软件组成。鱼眼探头安装在一个很轻的摇臂的顶端，它可以获取180°视角的鱼眼图像。图像的显示和存贮由配置的笔记本计算机完成。 四.技术指标 1.可测量指标： 叶面积指数 叶片平均倾角 聚集指数1 聚集指数2 树冠开阔度 天空散射光透过率 不同太阳高度角下的植物冠层直射辐射透过率（间隙率透光率） 不同太阳高度角下冠层的消光系数 叶面积密度的方位分布（不透光率） 光合有效辐射（PAR） 2.镜头角度：180° 3.分辨率：2592×1944 4.测量范围：天顶角由0°～90°(180°鱼眼镜头)可分割成十个区域，方位角360°亦可分割成十个区域 5.PAR感应范围：感应光谱400nm～700nm 6.测量范围0～3000μmol/㎡&bull S 7.分析软件：植物冠层分析系统 8.重量：500g 9.工作及存储环境：-10℃~55℃≤85%相对湿度 10.传输接口：USB 五、功能特点 1.鱼眼镜头可自动保持水平状态：专门为植物冠层结构测量设计的小型鱼眼摄像镜头安装在手持式万向平衡接头上，可自动保持镜头处于水平状态，无需三角架； 2.鱼眼镜头可以伸入至冠层中：镜头安装在摇臂一端，由于小巧和带有测量杆，可以方便地水平向前或垂直向上伸入到冠层不同高度处，快速地进行分层测量，测出群体内光透过率和叶面积指数垂直分布图； 3.图像分析软件：图像分析软件可以任意定义图像分析区域（天顶角可分10区，方位角可分10区）。 4.可屏蔽不合理冠层部分：对不同方向的冠层进行区域性分析时，可以任意屏蔽地物景象和不合理的冠层部分（如缺株、边行问题等）。 5.自动化阈值调节，避免主观设置阈值导致增大误差 6.数据浏览：可浏览历史数据 7.内置中英文双语显示，一键切换 8.配置清单：鱼眼探头、测量杆、笔记本电脑（内置分析软件）、电脑包、加密狗、铝箱、说明书，合格证

超声波样品厚度测量仪 金属数显厚度测量仪是一款利用超声波测量原理，采用高速处理器、高集成芯片设计，实现便携式、无损、快速、精准地测量多种材料厚度及声速的高精度便携式测厚仪。能以恒定速度穿透物体且产生反射波的材料都可以使用。　　适用于各种材料的高精度厚度测量需求，可应用于各种金属(钢铁、不锈钢、铝、铜、等)石英、玻璃、塑料等材质的被测物体厚度测量。 只需要将探头放置于被测物体一侧的接触面上，既可以迅速准确测量出被测物体厚度。　　 超声波样品厚度测量仪 金属数显厚度测量仪功能特征：　　几乎适合于所有材质的厚度测量,如：金属,玻璃,塑料等材料 　　仪器精美，小巧，直观，采用2.3寸大彩屏显示，手持式携带方便,适合现场检测　　两种测量模式：标准模式/穿透模式(穿透型专用)　　测量精度高，测量范围大，一个标准探头完成全量程　　中英文双语言版本　　蓝牙互联数据传输功能(适用于蓝牙版测厚仪)　　校准：探头标准块校准,声速校准，可通过已知厚度求声速, 通过方向键自由调整数值　　手动关机和自动关机两种，用户可随意选择 　　内置7种常用材料的声速，并可编辑，方便用户使用 　　人性化数据保存模式：大容量存储，并且可分组保存数据，可存储10组数据，每组可保存200个数据，可存储2000个数据，手动保存更有自主性，利于结果分析 　　大容量存储，查看，删除操作，方便简单　　多探头配合使用，高温环境测量可选配高温探头耐高温(300℃)

TB-300智能金属箔电阻率测量仪 TB-300智能金属箔电阻率测量仪是我公司推出的专利产品， 国内外唯一能便携全自动测量金属导线、 箔电阻率、电导率等参数高性能检测仪器。应用电流 – 电压降四端子测 量法、先进的电子技术、单片机技术及自动检测技术设计的高新产品。其性能完全符合 GB/T3048.2及 GB/T3048.4中的相关技术要求。广泛应用于金属箔、金属薄带、电池极 耳等新能源领域及电力电工、电线电缆、电机电器、高等院校、科研单位等行业。TB-300型仪器主要特点 用于测量金属箔、金属薄带及线材的电导率、电阻率、米电阻及电机、变压器等直流电阻。集先进电子技术、单片机技术、自动检测技术于一体、自动化功能强，操作简单； 仅按一次键， 所有测量数值即可获得， 无需任何计算， 适合于连续、快速、准确检测； 电池供电设计，体积小，容易携带，适用于现场及野外使用；大屏幕， 大字体， 可同时显示电阻率、电导率、电阻等测量值及温度， 测试电流、温 度补偿系数等辅助参数，非常直观；一机多用，拥有3种测量界面， 既导体电阻率、电导率测量界面， 金属箔电阻率测量 界面；每次测量， 具有自动选定恒流电流， 自动电流换向， 自动零点校正， 克服热电压到线 电阻引起的误差， 保证每次测量值的精确性；仪器自带环境温度传感器及内设有多种材料温度系数供选择，完成温度自动补偿；可选配系列校准电阻，搭配相关软件，方便地实现仪器自动校准；独特的携带式四端子测试夹具， 适用于对不同材料， 不同规格的线材或棒材快速测量； 内置有数据存储器， 可记录保存1000组测量数据及测量参数， 连接上位计机生成完整 报告。 TB-300A 型主要技术参数参数值 项目名称电阻率电导率电阻测量范围0.01μΩm ～2.5μΩm0.4MS/m～100MS/m 0.69%IACS～172%IACS0.1μΩ～150Ω分辨率－4 10－6μΩm0.01～0.001%IACS0.1μΩ（ I=1A）精度±0.25%±0.25%100μΩ ～ 150Ω ： ±0.15%温度测量－10℃～＋55℃ 精度±0.2℃(0℃～＋40℃)仪器内部 恒流电流16μA 档～1A 档（依据测量要求仪器自动选择）测试夹具配 TBJ-300（300mm） 便携测试夹具 测量条形金属箔和金属薄带自动温度 补偿测量值自动矫正为20℃时数值测量项目质量电阻率ρm、导体电阻率 ρv、电导率 σ、电阻 R打印输出 数据日期、时间、温度修正系数 α 、规格、 金属箔和线材的各项测量数值正常工作 环境温度0℃～＋40℃ 相对湿度0～80%显示大屏幕液晶，可同时显示多项测量参数，带背光供电7Ah/7.4V 充电锂电池。电池单独供电，平均工作时间超过15小时内部存储 器可保存1000组测量数据PC 机 通 讯方式RS232串口重量主机： 2.2Kg 便携测试夹具： 1Kg主机尺寸285(W)*158(H)*120(D)主机外壳抗冲击工程塑料包装及防 护内装主机、测试架、充电器、通讯电缆、校正电阻、操作手册、微型打 印机

美国ANDalyze AND1100便携式重金属测量仪产品简介：ANDalyze便携式重金属测量仪可测量饮用水、地表水和工业废水中可溶性的重金属含量，包含铜、铅、汞、镉、铀和锌等。DNA酶测试技术ANDalyze的DNA传感器在接触目标污染物(比如铅)时存在时会产生荧光。荧光计检测产生荧光的强度以测定待测重金属的浓度，并给出ppb或ppm为单位的测试结果。测试方法是取1毫升的水样，通过传感器注射到荧光计内的比色皿中，荧光计在一分钟内自动完成分析并给出待测物浓度。赢得美国环保局(EPA)奖项ANDalyze手持式测试技术可在几十秒内在现场对重金属污染物完成准确的测试分析，符合美国的EPA测试标准。这是一种具有突破性的产品，它准确和使用方便，不需要特别的专业技能或化学知识便能熟练操作。它不含任何有害有害材料或副作用。此外，该产品通过简化测试过程可降低测试费用。美国ANDalyze AND1100便携式重金属测量仪产品特点：操作简单——非专业人员也能熟练操作高灵敏性和选择性——低ppb级测量范围扩展性强——单台主机可测量多个重金属参数一分钟测试——快速、简洁的菜单显示，一键启动样品分析荧光传感器——通过DNA酶反应产生定量荧光给出结果传感器测试包——不同颜色标记的传感器可测试不同的重金属，测试包标配所有需要的备件数据采集与报告——测量结果带日期、时间及地点。可通过USB数据线下载数据及充电维护——CE认证，保护等级IP54。并可通过USB数据线从网上进行免费下载软件升级视频培训——主机上可观看教学培训视频，无需培训文档支持多语言——可选择中文操作界面环保——不含有毒有害试剂，废弃物无需特殊处理美国ANDalyze AND1100便携式重金属测量仪测量参数及范围：金属参数量程金属形态颜色标记铅2 - 100 ppbPb2+绿铜（高量程）0.6 - 3 ppmCu+/Cu2+蓝铜（低量程）40 - 200 ppbCu+/Cu2+蓝铀2 - 60 ppb四价铀，UO22+橙汞2 ppb (阴性/阳性)Hg2+银灰锌1 - 15 ppmZn2+白镉0.1 - 1 ppmCd2+黄即将推出 铬，砷，及其它测试包美国ANDalyze AND1100便携式重金属测量仪标准配置：1、荧光光度计主机 2、数据线 3、100微升定量移液枪一支 4、一次性枪头 5、PH试纸 6、说明书 订货指南： 订货号描述AND002AND1100便携式重金属测量仪AND010铅套装（25次），范围：2 ~ 100 ppb Pb2+AND011铀套装（25次），范围：2 ~ 60 ppb UO2+AND012铜（低浓度）套装（25次），范围：40 ~ 200 ppb Cu2+AND013铜（高浓度）套装（25次），范围：0.6 ~ 3.0 ppm Cu2+AND014汞套装（25次），阳性表示水样中汞浓度大于2ppb，阴性表示汞浓度低于2ppbAND015锌套装（25次），范围：1 ~ 15 ppm Zn2+AND016镉套装（25次），范围：0.1 ~ 1.0 ppm Cd2+AND900过滤套装（25次），包含针头过滤器、20mL注射器、50mL样品试管，操作手册AND901稀释套装（25次），包含5mL固定式移液器，5mL移液枪头，50mL样品试管，操作手册AND902铁离子干扰屏蔽套装，铁浓度较高30ppb时使用AND903pH调节套装

中图仪器Novator金属塑胶件全自动影像测量仪智能化和自动化程度高，使测量变得简单。仪器具备多种测量功能，包括表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等的精密测量。其线激光3D扫描功能，可实现3D扫描成像和空间测量；点激光线扫描功能，可输出断面高度、距离等二维尺寸做分析。产品优势稳固移动平台、高测量精度1.精密大理石机台，稳定性好，精度高。2.精密线性滑轨和伺服控制系统，超低分贝静音级运动。3.三轴全自动可编程检测，实现复杂特征批量检测。激光扫描成像、3D复合测量1.支持点激光轮廓扫描测量，进行高度方向上的轮廓测量。2.支持线激光3D扫描成像，可实现3D扫描成像和空间测量。3.VisionX测量软件支持多种轮廓测量和3D空间测量，无缝连接2D/3D混合测量。频闪照明光源、高速硬件飞拍1.具备频闪照明光源，支持频闪和普通双模式。2.支持飞拍模式测量，测量效率提升5~10倍。3.融入中图闪测仪的拼接测量功能，发挥综合优势。可更换RGB表光、独立升降表光1.可更换RGB表光和白色表光，适应多种复杂颜色和材料表面。2.表光可独立升降，更好的观察样品表面。3.支持六环八分区表面光、透射光、同轴光分段编程控制。自动测量，批量更快1.程序匹配工件坐标系，自动执行测量流程。2.支持CAD图纸和Gerber图纸导入，坐标系匹配测量。3、CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行批量测量。操作简单，轻松无忧1.具备大幅面导航相机，快速实现工件定位。2.具有镜头防撞功能，轻松无忧。3.一体化操作界面，任何人都能轻松设定和测量。Novator金属塑胶件全自动影像测量仪具有的频闪照明和飞拍功能，可进行高速测量，大幅提升测量效率；具有可独立升降和可更换RGB光源，可适应更多复杂工件表面。在机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、钟表、刀具、计量检测等领域中，可实现各种复杂零件的表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等精密测量。软件测量功能1.量测工具：扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。2.可测几何量： 点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。3.构建特征：交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。4.形位公差：直线度、圆度、轮廓度、位置度、平面度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。5.坐标系：仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系；图像配准坐标系；可平移、旋转、手工调整坐标系。6.快速工具：R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。高度测量Novator金属塑胶件全自动影像测量仪配备（1）触发式测头；（2）点激光(激光同轴位移计)；（3）三角激光三种传感器配置，能精准测量零件高度尺寸。 1、接触式测量影像测量仪+触发式测头组合相当于一台小的三坐标测量仪，也就是我们说的复合式影像测量仪，在需要测量高度的地方，用探针取元素（点或者面），然后运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度。2、非接触式测量通过搭载点激光(激光同轴位移计)、三角激光传感器配置，点激光轮廓扫描测量以及线激光3D扫描成像进行高度测量，平面度测量，针对镜面和光滑斜面均可测量；或是运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度，这样的测量方法可以减少人为误差，不管是谁来测量，都可以测得同样的数值，非常简单方便。平面度测量在测量平面度时，可以将待测物放置在二维影像仪的工作台上，使用光学放大镜头和图像处理软件来检测物体表面的高低差异，并计算出物体表面的平坦度参数。通过与标准样品的比较，可以判断物体表面是否符合规定的平面度要求。需要注意的是，二维影像仪在测量平面度时，需要选择合适的光学放大倍率和图像处理算法，以保证测量结果的准确性和可靠性。光学测头平面度测量3D形貌测量Novator二次元影像测量仪搭载高精度线扫激光测头，无接触扫描3D轮廓成像，抑制多重反射，能够快速实现尺寸的精准批量测量。通过3D成像视图，可观察到产品形貌的微小特征，可实时输出2D、3D图像保存，支持2D、3D产品尺寸测量。 部分技术指标型号Novator432行程范围X(mm)400Y(mm)300Z(mm)200图像传感器高清彩色工业摄像机显示器24英寸 LCD显示器（1920×1080）放大倍率光学放大0.6~8.0X 影像放大17~232X照明系统透射光远心透射照明（绿色）表面光6环8分区分割照明（白光）；选配，可更换RGB光源同轴光LED光3D扫描成像测量Z向测量范围5mm扫描宽度30mm支持飞拍测量模式支持支持导航相机支持传感器配置选配，(1)接触式探针；(2)白光共焦；(3)三角激光外形尺寸(mm)860*1350*1670仪器重量(Kg)650恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

金属涂层光纤是高温、真空和恶劣环境下应用的完美解决方案！姓名：王工(Jeff)电话：（微信同号）邮箱：金属镀层光纤根据波段分为UV及NIR两种，传输范围从220到2400nm不等。金属镀层光纤工作温度范围*为-270°C至600°C；湿度高达100%。金属镀层光纤产品特性：• 工作温度高达400℃(铝)/600℃(铜)• 优良的机械强度及柔韧性• 适用于高真空环境• 可焊接• 散热性好• 适用于各种灭菌环境（蒸汽、ETO、伽马射线等）金属镀层光纤产品应用：• 耐高温环境• 耐腐蚀环境• 高真空环境• 深紫外应用• 油气井下传感• 火箭、喷气发动机检测• 高功率激光传输• 医疗应用金属镀层光纤产品性能曲线：金属镀层光纤产品规格：Parameters of standard Al-coated FibersCodeTypeCore, μmCladding, μmCoating Al, μmNA100/110 AlStep Index Multimode100 ± 2%110 ± 2%140 ± 5%0.22200/220 AlStep Index Multimode200 ± 2%220 ± 2%300 ± 5%0.22400/440 AlStep Index Multimode400 ± 2%440 ± 2%560 ± 5%0.22600/660 AlStep Index Multimode600 ± 2%660 ± 2%825 ± 5%0.2250/125 AlGraded Index Multimode50 ± 2%125 ± 2%165 ± 2%0.229/125 AlStep Index Single Mode9 ± 5%125 ± 5%160 ± 2%0.13Parameters of standard Cu-alloy coated FibersCodeTypeCore, μmCladding, μmCoating Cu, μmNA100/110 CuStep Index Multimode100 ± 2%110 ± 2%145 ± 5%0.22200/220 CuStep Index Multimode200 ± 2%220 ± 2%270 ± 5%0.22400/440 CuStep Index Multimode400 ± 2%440 ± 2%535 ± 5%0.22600/660 CuStep Index Multimode600 ± 2%660 ± 2%745 ± 5%0.2250/125 CuGraded Index Multimode50 ± 2%125 ± 2%165 ± 2%0.229/125 CuSingle mode9 ± 5%235 ± 5%165 ± 2%0.13

MXD-02金属箔片摩擦系数测定仪 材料表面爽滑性试验仪 摩擦系数测量仪适用于测量塑料薄膜和薄片、橡胶、纸张、纸板、编织袋、织物风格、通信电缆光缆用金属材料复合带、输送带、木材、涂层、刹车片、雨刷、鞋材、轮胎等材料滑动时的静摩擦系数和动摩擦系数。通过测量材料的滑爽性，可以控制调节材料生产质量工艺指标，满足产品使用要求。另外还可用于化妆品、滴眼液等日化用品的滑爽性能测定。技术特征：一次试验便可同时测定试样的动、静摩擦系数试验速度可设、可调；支持任意滑块质量该仪器满足GB、ISO、ASTM多种测试标准，测试方法可按客户需求任意选择仪器试验台面和测试滑块均经过消磁处理和剩磁检测，有效地降低了系统测试误差设备由微电脑控制，搭配菜单式操作界面，PVC控制面板和液晶显示屏，方便用户进行试验操作及数据查看系统配件均采用世界知名进口元器件，性能稳定可靠专业软件可以自动进行单件、成组试验的结果统计分析和原始数据再分析、成组曲线叠加比较，以及多种报告模式直观快速地将测试结果展示给客户配备微型打印机和标准的RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输支持LystemTM实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告执行标准：ISO 8295、GB 10006、ASTM D1894、TAPPI T816MXD-02金属箔片摩擦系数测定仪 材料表面爽滑性试验仪 摩擦系数测量仪技术指标：负荷范围：0～5 N精度：0.5级 行程：70 mm、150 mm 滑块质量：200g (标准）；注：其他质量滑块可定制试验速度：100 mm/min、150 mm/min；注：其他速度可调环境要求：温度：23±2℃；湿度：20%RH～70%RH 电源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz外形尺寸：630mm(L)×360mm(W)×230mm(H) 净重：33kg仪器配置：标准配置：主机、微型打印机、200g滑块选购件：专业软件、通信电缆、500g非标滑块

薄膜测厚仪 金属箔片厚度测量仪 无纺布材料厚度检测仪无纺布材料厚度检测仪是一种专业设备，用于精确测量无纺布以及其他薄型材料的厚度。这类仪器设计精密，确保在生产、质量控制和研究中提供准确的厚度数据。以下是基于通用参数和功能的详细介绍：薄膜测厚仪 金属箔片厚度测量仪 无纺布材料厚度检测仪基本参数与特点：测量范围：0～2 mm（标准量程）（0-6mm，0-12mm可选，其它行程可订制）。分辨率：高精度仪器的分辨率可达到1微米（um），确保测量的细微差异也能被捕捉。测量原理：采用接触式测量技术，接触式通常通过压头轻触材料表面。重复性：高质量的检测仪重复性误差小于0.5%，保证每次测量的一致性。显示与操作：配备清晰的LCD显示屏，显示即时测量结果，操作界面简单直观，便于快速读取和操作。兼容标准：设计符合GB/T 3820等国家标准，确保测试结果的标准化和可比性。适用材料：不仅限于无纺布，还适用于薄膜、纸张、金属箔、纺织品等薄型材料。稳定性与耐用性：具有良好的稳定性和耐用性，适合在实验室和生产线上长期使用。数据处理：部分高级型号可能支持数据存储、输出至电脑，便于数据分析和记录管理。校准功能：内置校准机制，确保长期使用的准确性，用户可定期进行校准以维持测量精度。薄膜测厚仪 金属箔片厚度测量仪 无纺布材料厚度检测仪操作流程：准备样品：确保无纺布样品平整无皱。放置样品：将样品置于测量区域，保持稳定。启动测量：按下测量按钮，仪器自动进行厚度读取。读取结果：显示屏上显示即时的厚度数据。记录与分析：根据需要记录数据，进行进一步的质量评估或分析。

【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】专业供应镀层测厚仪，金属镀层测厚仪，应对镀锌层、镀锡层、镀镉层、镀铬层、镀铜层、镀铅层、镀铜锡合金等等。1.6 技术性能及指标: 1.6.1 元素分析范围从硫(S)到铀(U) 1.6.2 元素含量分析范围为 1PPm 到 99.99% 1.6.3 测量时间：60-200 秒 1.6.4 检测限度达 1PPM 1.6.5 能量分辨率为 149±5 电子伏特 1.6.6 温度适应范围为 15℃至 30℃ 1.6.7 电源：交流 220V±5V（建议配置交流净化稳压电源） 1.7 产品特点:● EDX6000E 是针对镀层测厚设计的一款产品 ● 打破传统仪器直线的设计，采用流线体的整体化设计，仪器时尚大方 ● 采用美国新型的 Si-PIN 探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确，维护成本低 ● 采用自主研发的 SES 信号处理系统，有效提高测量的灵敏度，让测量更精确 ● 一键式自动测试，使用更简单，更方便，更人性化 ● 七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换 ● 多重防辐射泄露设计，辐射防护级别优于同类产品。 ● 一体化散热设计，使整机散热性能得到极大提高，保证了核心部件的运行安全 ● 机芯温控技术，保证 X 射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本 ● 多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全 ● 专用测试软件，标准视窗设计，界面友好，操作方便 ● 本机采用 USB3.0 接口，有效地保证了数据准确高速有效的传输【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】2.仪器硬件部分主要配置2.1 Si-PIN 电制冷半导体探测器2.1.1 Si-PIN 电制冷半导体探测器；分辨率：149±5 电子伏特 2.1.2 放大电路模块:对样品特征 X 射线进行探测；把探测采集的信息,进一步放大2.2 X 射线激发装置2.2.1 灯丝电流输出：1mA2.2.2 属于半损耗型部件，使用寿命达 20000 小时2.3 高低压电源2.3.1 电压输出： 50kV2.3.2 5kv 可控调节2.3.3 自带电压过载保护2.4 多道脉冲幅度分析器2.4.1 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件2.4.2 通道数： 40962.4.3 包含信号增强处理2.5 光路过滤模块 2.5.1 降低 X 射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确2.5.2 将准直器与滤光片整合2.6 准直器自动切换模块2.6.1 多达 7 种选择，口径分别为 8-1＃, 8-2＃, 8-3＃, 4＃，2＃, 1＃, 0.5＃ 2.7 滤光片自动切换模块2.7.1 五种滤光片的自由选择和切换 2.8 准直器和滤光片的自由组合模块2.8.1 多达几十种的准直器和滤光片的自由组合 2.9 工作曲线自动选择模块2.9.1 自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化 操作得更轻松，使操作更人性，更方便3. 专用软件配置 3.1 专用 镀层分析软件 3.1.1 专门针对镀层检测而开发，对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告 显示测量结果 3.3 专用 FP 金属镀层分析软件3.3.1 元素分析范围：从硫（S）到铀（U）3.3.2 一次可同时分析 3 层以上镀层3.3.3 分析检出限可达 0.1μm3.3.4 分析厚度一般为 0.1μm 到 30μm 之间3.3.5 多次测量重复性可达 0.1μm（对于小于 1μm 的最外层镀层）3.3.6 长期工作稳定性为 0.1μm（对于小于 1μm 的最外层镀层）3.3.7 配置小孔准直器，测试光斑在 0.2mm 以内3.3.8 探测器能量分辨率为 149±5eV3.3.9 应用领域:金属电镀层厚度的测量,如 Zn/Fe、Ni/Fe、Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Cu 等 【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】

新型用于金属双极板的涂层 核心技术包括：? 改性和功能化碳基材料的合成? 具有高腐蚀稳定性和导电性的涂料溶液? 大批量生产的工艺技术 我们提供什么：金属双极板的独特涂层金属双极板是提高燃料电池功率密度的关键技术。 为了确保高性能和长期稳定性，必须使用保护涂层。 我们提供了一种新颖的碳基涂层，使薄而轻的双极板成为可能。 过程的可扩展性我们的技术允许无真空的在线流程工艺进行大批量生产。 全面的专业知识我们在能量转换和存储，材料科学和电化学以及各种化学和光学表征技术方面拥有广泛的专业知识。 技术指标腐蚀稳定性和界面接触电阻（ICR）双极板/气体扩散层界面处的ICR在 2.5 m? cm2释放140 N cm-2 (与金相比).在腐蚀性环境中进行暴露测试后，具有很高的化学稳定性和较低的ICR。 极化曲线电池测试显示出高性能和长期稳定性，与镀金板（通过物理气相沉积PVD制备）相当。 线圈材料的预涂我们的镀膜技术允许i）双极板的镀膜以及ii）线圈材料的后续镀膜处理。 关于批量生产和有效的供应链，预涂在物流和经济方面显示出明显的好处。极化曲线 电池测试显示出高性能和长期稳定性，与镀金板（通过物理气相沉积PVD制备）相当。 线圈材料的预涂我们的镀膜技术允许i）双极板的镀膜以及ii）线圈材料的后续镀膜处理。 关于批量生产和有效的供应链，预涂在物流和经济方面显示出明显的好处。 技术数据? 厚度为0.1毫米的316L不锈钢（1.4404）用于测试（可能使用其他基材）。? 2 GDLs；1.5 A cm-2 ；压力 60-300 N cm-2条件下测试ICR? 电池在70°C；750 mA cm-2条件运行，每六小时记录一次极化曲线。

TrueX COAT镀层分析仪集成了浪声前沿的科研创新，具有快速、高精准度、轻便、易携带等优点，其可对大量金属废料进行现场检测和快速分类，为使用者提供迅速高效、准确的数据信息，是钢铁冶炼、有色金属、石化精炼、精细化工、制药、电力电站、航空航天等行业在质量控制（QA/QC）、材料分析（PMI）、混料识别、废料分拣（Recyling）、牌号识别（Grade ID）中的有力工具。使用优势易携性仪器体积更小、重量更轻，方便现场实时检测，可轻松应对各种形状的样品。无损检测在不损坏检测对象的前提下，快速精准地对镀层样品进镀层厚度以及样品元素含量进行分析。散热性仪器配有专用的T型槽式散热装置，提高仪器散热性能，无需频繁等待探测器冷却。准确可靠的定性定量方法集成了浪声前沿的Super-FP算法、校正曲线法等先进算法，使得仪器不仅测量速度更快，测量准确性更高，测量一致性更强。高品质进口探测器仪器选用适合于多元素镀层的分析进口探测器，噪音小，可灵活地应对镀层结构。应用场景线路板行业五金建材行业珠宝和手表行业精密电子、5G行业汽车和装饰行业电镀槽液、电镀废水中的金属含量规格参数重量1.6KG（配置电池）尺寸254×79×280mm（L×W×H）激发源50KV/200μA上限，管压管流可自由调节，W/Ag/Rh靶材(可选配)元素范围Mg(镁)—U(铀) 分析层数5层（4层+基材）每层可分析10种元素，成分分析最多可分析25种元素探测器Si-Pin探测器/SDD探测器(可选配)显示系统4.3英寸工业级电阻触摸屏自动根据外部环境亮度调节显示器亮度数据处理内置32G存储器USB，蓝牙，WIFI，可将设备联入互联网，可远程对仪器进行设置及检修散热性仪器配有专用的T型槽式散热装置，提高仪器散热性能，无需频繁等待探测器冷却安全性内置DoubleBeam&trade 技术自动感知前方有无样品，提高射线的安全性和防护等级防水、防尘、防震手提箱LANScientific专用安全绳电源系统具有MSBUS总线的智能电池、实时监控电池、备用电池可直接查看电池剩余容量，电池符合航空危险品运输条例单个电池可持续工作8小时左右

植物冠层测量仪功能特点植物冠层测量仪为一体化设计，包括液晶显示屏、操作按键、存储SD卡及测量探杆等。仪器菜单操作简单，体积小，携带方便。存储介质为市场上通用的SD卡，存储容量大，数据管理方便！在功耗上有合理的电源管理方案，测试过程中仪器根据实际情况自动进入待机状态，需要时按唤醒键即可唤醒屏幕，观察实际数据。测量方式分为自动和手动两种。自动测量时间间隔最小1分钟，自动测量次数最大99次，手动测量根据实际需要手动采集即可。仪器介绍LD-G10植物冠层测量仪可广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系，本仪器用于400nm－700nm波段内的光合有效辐射（PAR）测量、记录,测量值的单位是平方米秒上的微摩尔（μmol㎡/秒）。

菲希尔台式镀层测量仪膜厚仪 手持式、台式、在线：XAN500型X射线荧光仪器是菲希尔到目前为止功能多样化的设备。 它既可以作为手持式设备使用，也可以作为封闭式的台式机或是直接整合到生产线中。 在配备了平板电脑后，XAN500同样采用久经考验的WinFTM软件。 基于基本参数法的WinFTM软件不仅能进行材料分析，还能测量镀层厚度，并可实现无校准（不需标准片）测量。 手持式便携X射线荧光仪器为镀层厚度测量和合金分析而优化3点支撑，保证每次测量时的位置准确带有WinFTM软件的平板电脑WiFi和蓝牙接口可选的测试箱 应用:在生产过程中，实时检测镀层厚度（如：Zn、ZnNi、Ag、Au）可便捷且稳定地测量大尺寸部件，如管道、外壳或机械零件。将仪器放置到测量箱中，XAN500即成为全功能的台式仪器，可准确地测量小尺寸零件，如螺母和螺栓。还可整合到生产线的控制系统中，可以实现100%的质量监控 准确货期&价格请与客服咨询为准！谢谢

XF-S6贵金属检测仪是西凡仪器针对贵金属首饰成分和镀层检测的一款旗舰X射线荧光光谱仪，可广泛应用于珠宝首饰工厂以及回收等行业和单位。该产品采用先进的进口定制Fast-SDD探测器，内置四核工控电脑，采用X射线与可见光共焦点光路设计和全新的SmartFP算法。检测速度快，测试稳定性好、准确性高，适用范围广。西凡贵金属检测仪XF-S6产品特点：可支持最多30个元素同时计算分析范围：0.005%～99.999%检测精度：±0.01%(999金)相对误差：±1.5%(1微米厚度)检测样品：贵金属合金/液体/首饰镀层无需标样，可同时分析镀层厚度和镀材、基材成分。定制TCP/IP协议API接口，支持外网对设备的控制、状态监控及数据采集支持多点连续测试，测试效率高双准直器，多滤光片自动切换遵守GB/T16921,ISO3497:2000,ASTM-B658标准。西凡贵金属检测仪XF-S6测试案例：

功能与特点：植物冠层测量仪可广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系，本仪器用于400nm－700nm波段内的光合有效辐射（PAR）测量、记录,测量值的单位是平方米&bull 秒上的微摩尔（μmols㎡/秒）。植物冠层测量仪为一体化设计，包括液晶显示屏、操作按键、存储SD卡及测量探杆等。仪器菜单操作简单，体积小，携带方便。存储介质为市场上通用的SD卡，存储容量大，数据管理方便！在功耗上有合理的电源管理方案，测试过程中仪器根据实际情况自动进入待机状态，需要时按唤醒键即可唤醒屏幕，观察实际数据。测量方式分为自动和手动两种。植物冠层测量仪自动测量时间间隔最小1分钟，自动测量次数最大99次，手动测量根据实际需要手动采集即可。技术参数：1.测量范围：0-2700μmol ㎡/秒2.分辨率：1μmol ㎡/秒3.响应时间：10μs4.自动采集间隔：1-99分钟5.自动采集次数：1-99次6.数据存储容量：2GB（标配SD卡）7.仪器总长度：75 cm8.探杆长度：50 cm9.传感器数量：25个（标配）10.电源：2节5号电池

磁性/电涡流式覆层厚度测量仪标准厚度片简介：JJG818-2005涂层测厚仪标准试片在基材、表面加工或外形上建立一个涂层厚度标准，校准膜片或"夹片"是最方便的的方法。 这是调整涂层测厚仪的校准、确保做到大精确度的理想方法。一、产品简介 在基材、表面加工或外形上建立一个涂层厚度标准，磁性/电涡流式覆层厚度测量仪标准厚度片或"夹片"是方便的的方法。 这是调整涂层测厚仪的校准、确保做到大精确度的理想方法。 二、特性: 1、每张膜片都有公英制数值 2、厚度从12.5μm 到 25mm (0.5 到 980mils) 3、精确膜片的精确度是 ±1%. 低于 50μm (2.0mils) 的膜片精确度是±0.5μm (0.02mil).

HITACHI FT160 XRF萤光镀层厚度测量仪 快速、准确地分析纳米级镀层FT160 台式 XRF 分析仪旨在测量当今 PCB、半导体和微连接器上的微小部件。准确、快速地测量微小部件的能力有助于提高生产率并避免代价高昂的返工或元件报废。FT160 的多毛细管光学元件可以测量小于 50 μm 的特征上的纳米级镀层，先进的检测器技术可为您提供高精度，同时保持较短的测量时间。其他功能，例如大样品台、宽样品舱门、高清样品摄像头和坚固的观察窗，可以轻松装载不同尺寸的物品并在大型基板上找到感兴趣的区域。该分析仪易于使用，与您的 QA / QC 流程无缝集成，在问题危机发生前提醒您。HITACHI FT160 XRF萤光镀层厚度测量仪产品亮点FT160 的光学和检测器技术专为微光斑和超薄镀层分析而设计，针对细小的特征进行了优化。用于从安全距离查看分析的大观察窗测量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987 标准IPC-4552B、IPC-4553A、IPC-4554 和 IPC-4556 一致性镀层检测用于快速样品设置的自动特征定位为您的应用优化的分析仪配置选择在小于 50 μm 的特征上测量纳米级镀层将传统仪器的分析通量提高一倍可容纳各种形状的大型样品专为长期生产使用的耐用设计HITACHI FT160 XRF萤光镀层厚度测量仪产品对比FT160FT160LFT160S元素范围Al – UAl – UAl – U探测器硅漂移探测器 (SDD)硅漂移探测器 (SDD)硅漂移探测器 (SDD)X射线管阳极W 或 MoW 或 MoW 或 Mo光圈多毛细管聚焦多毛细管聚焦多毛细管聚焦孔径大小30 μm @ 90% 强度（Mo tube）35 μm @ 90% 强度（W tube）30 μm @ 90% 强度（Mo tube）35 μm @ 90% 强度（W tube）30 μm @ 90% 强度（Mo tube）35 μm @ 90% 强度（W tube）XY轴样品台行程400 x 300 mm300 x 300 mm300 x 260 mm样品尺寸上限400 x 300 x 100 mm600 x 600 x 20 mm300 x 245 x 80 mm样品聚焦聚焦激光和自动聚焦聚焦激光和自动聚焦聚焦激光和自动聚焦测试点识别???软件XRF ControllerXRF ControllerXRF Controller

仪器介绍YP-G10植物冠层测量仪可广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系，本仪器用于400nm－700nm波段内的光合有效辐射（PAR）测量、记录,测量值的单位是平方米秒上的微摩尔（μmol㎡/秒）。

菲希尔金镍测厚仪，无损多层镀层测厚仪金镍测厚仪用途 该设备适用于多层镀层厚度测量及材料分析，可用来定量和定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量，最多可同时测定24种元素，广泛应用于电路板、半导体、电镀、珠宝等工业中的功能性镀层及电镀槽液中的成分浓度分析。 金镍测厚仪特点：1、无论是镀层厚度测量，还是镀液分析，复杂的多镀层应用，一个软件程序就可以完成所有测量应用2、X射线管有带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口和钨靶的微聚焦X射线管多种选择3、X射线探测器PC（比例接收器）、PIN（硅PIN接收器）、SDD（硅漂移接收器）4、可自动切换的准直器和多种滤片可以灵活地应用不同测量。X射线荧光镀层测厚及材料分析仪测量方向产品型号应用范围检测器射线管基本滤片准值器数量/尺寸(mm)C型开槽从下往上XUL一款适合电镀厂测量镀层厚度的性价比高的仪器，它配备了一个固定的准值器和滤，射线管出射点稍大，非常适合测量点在1mm以上的应用。对于测量典型电镀层厚度的应用，如Cr/Ni/Cu等，非常合适。PC标准11（Φ0.3）是XULM多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层（如50nm Au或100um Sn）都通过选择好的高压滤片组合很好的测量。微聚焦管可以达到在很短的测量距离内小到100um的测量点大小。高达数kcps的计数率可以被比例接收器接收到。PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XAN110/120专门为分析金合金开发的划算的仪器。比较XAN而言，只有一个固定的准直器和固定的滤片，特别适合贵金属分析。XAN 110配备比例接收器，适于几种合金元素的简单分析。XAN120配备了半导体接收器，更可以应用于多元素的复杂分析。PC(XAN 110)PC(XAN 120)标准11（Φ0.3XAN110）1(Φ1XAN120)否XAN分析专用仪器，测量方赂从下到上。用途广泛。测量室全封闭，可以使作大准直器分析，高计数康可也可被硅漂移探测器处理。激发和辐射检测方式与XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物质衡量分析的理想仪器。PINSDD微聚焦3/64（Φ0.2-Φ2）否从上往下测量XDL适合镀层厚度测量的耐用仪器，即使大测量距离也可以测量（DCM，范围0-80mm）配备一个固定的准值器和固定的滤片。适合测量点在1mm以上的应用；跟XUL类似。可选 用自动测量的可编程工作台。PC标准11（Φ0.3）是XDLM比XDL适用面更广，配备微聚焦管，4个可切换的准直器和3个基本滤片。测量头与XULM想似；适合于测量小的结构如接插件触点或印刷线路板，也可以测量大的工作（DCM,范围0-80mm）PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XDAL与XDLM类似但配备了半导体接收器。这样就可能可以分析元素和测量超薄层（基于良好的信噪比）。比较适合测量结构较大的样品。PIN微聚焦34（Φ0.1-Φ0.6）是XDC-SDD适合于全部应用的高端机型。根据测量点大小和光谱组成，激发方式灵活多样。配备了硅漂移接收器，即使强度高达100kcps的信号也可以在不损失分辨率的情况下处理。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ0.3）否SDV-U专用微观分析的测量仪器。根据X射线光学部件的不同，可以分析小到100um或更小的结构。强度很高所以精度也非常好。即使很薄的镀层，测量不确定性小于1nm也是可能的。仅适于测量表面平整或接近平整的样品。SDD微聚焦4多毛细管系统是XDV-Vacuum具备综合测量能力的通用高端机型。与XDV-XDD相当。但可外配备了可抽真空的测量室，这样就使得分析从原子序数Z=11(Na)开始的轻元素成为可能。高精度的马达驱动的XYZ平台和视频摄像头可以精确定位样品位置和测量细小部件。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ3）否在线测量X-RAY 4000用于生产过程中薄膜，金属带或穿孔带的连续测量。测量头可以装配与样品传送方向的直角的位置。操作方便，启动迅速。数据接口可集成到质量管理或控制系统X-RAY54000用于生产线上连续测量的法兰式测量头。测量带状物，薄膜或玻璃的金属元素。在空气和真空都可以测量。提供水冷版本仪器。

1. 产品概述LMEC-300&trade 是鲁汶仪器针对特种金属膜层刻蚀而推出的 12 英寸集成设备，应用于新兴存储器件的制备。此类器件的核心功能单元含有成分复杂的金属叠层，例如磁存储器的磁隧道节（MTJ）、相变存储器中的合金相变层、阻变存储器中的阻变叠层。其副产物不易挥发，图形化挑战很大。 LMEC-300&trade 反应离子刻蚀与离子束刻蚀协同工艺，可规避 RIE 路径的侧壁沾污问题，也可突破 IBS 路径的工艺线宽局限。薄膜沉积腔室可以不脱离真空环境为器件覆盖钝化层，避免侧壁金属氧化、水化，从而改善可靠性。这种 RIE、IBS与原位钝化工艺集成方案，使 LMEC-300&trade 成为新兴存储器件关键工艺的优选。2. 系统特性设备集成了 Chimera® N 反应离子刻蚀（RIE）腔室、Pangea® A 离子束塑形（IBS）腔室、Basalt® A 原位（in-situ）沉积腔室，工艺不离开真空环境对于磁隧道结等难于形成挥发性产物的金属/合金叠层，该设备可实现等离子体刻蚀、干法清洗和原位钝化保护的功能可提供不同工艺解决方案，满足磁存储器（MRAM）、相变存储器（PCRAM）、阻变存储器（ReRAM）、磁传感器等器件的图形化需求可选配硬掩模刻蚀腔室 Chimera® A，形成从金属硬掩模到器件功能层的一体化刻蚀方案适用于12英寸晶圆

货期&价格请与咨询客服为准！谢谢！ 1. Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探测器），测量精度和测量结果业界。 2. 采用了FlexFP-Multi技术，无论是生产过程中的质量控制，还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检，我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。 3. Ux-720微移动平台和高清CCD搭配，旋钮调节设计在壳体外部，观察移动位置简单方便。 4. X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，提高了大批量生产电镀产品的检验条件，无损、快速和更准确的特点，对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。 5. Ux-720镀层测厚仪采用了华唯最新专利技术FlexFp -Multi，不在受标准样品的限制，在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度，测试结果经得起科学验证。 6. 样品移动设计为样品腔外部调节，多点测试时移动样品方便快捷，有助于提升效率。设计更科学，软硬件配合，机电联动，辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。 7. 软件操作具有操作人员分级管理权限，一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆，测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。 测厚技术：X射线荧光测厚技术测试样品种类：金属镀层，合金镀层测量下限：0.003um测量上限：30-50um（以材料元素判定）测量层数：10层测量用时：30-120秒探测器类型：Si-PIN电制冷 探测器分辨率：145eV高压范围：0-50Kv，50WX光管参数：0-50Kv，50W，侧窗类；光管靶材：Mo靶；滤光片：专用3种自动切换；CCD观察：260万像素微移动范围：XY15mm输入电压：AC220V，50/60Hz测试环境：非真空条件数据通讯：USB2.0模式准直器：Ø 1mm，Ø 2mm，Ø 4mm软件方法：FlexFP-Mult工作区：开放工作区 自定义标准配件：样品固定支架1支窗口支撑薄膜：100张保险管：3支计算机主机：品牌+双核显示屏：19寸液晶打印机：喷墨打印机 可选配件：可升级为SDD探测器 可以实现全自动一键操作功能，准直器自动切换，滤光片自动切换，开盖随意自动停，样品测试照片自动拍照、自动保存，测试报告自动弹出，供应商信息自动筛选和保存。

X射线荧光镀层测厚仪，涂层镀层测厚仪X射线荧光镀层测厚及材料分析仪系列测量方向产品型号应用范围检测器射线管基本滤片准值器数量/尺寸(mm)C型开槽从下往上XUL一款适合电镀厂测量镀层厚度的性价比高的仪器，它配备了一个固定的准值器和滤，射线管出射点稍大，非常适合测量点在1mm以上的应用。对于测量典型电镀层厚度的应用，如Cr/Ni/Cu等，非常合适。PC标准11（Φ0.3）是XULM多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层（如50nm Au或100um Sn）都通过选择好的高压滤片组合很好的测量。微聚焦管可以达到在很短的测量距离内小到100um的测量点大小。高达数kcps的计数率可以被比例接收器接收到。PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XAN110/120专门为分析金合金开发的划算的仪器。比较XAN而言，只有一个固定的准直器和固定的滤片，特别适合贵金属分析。XAN 110配备比例接收器，适于几种合金元素的简单分析。XAN120配备了半导体接收器，更可以应用于多元素的复杂分析。PC(XAN 110)PC(XAN 120)标准11（Φ0.3XAN110）1(Φ1XAN120)否XAN分析专用仪器，测量方赂从下到上。用途广泛。测量室全封闭，可以使作大准直器分析，高计数康可也可被硅漂移探测器处理。激发和辐射检测方式与XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物质衡量分析的理想仪器。PINSDD微聚焦3/64（Φ0.2-Φ2）否从上往下测量XDL适合镀层厚度测量的耐用仪器，即使大测量距离也可以测量（DCM，范围0-80mm）配备一个固定的准值器和固定的滤片。适合测量点在1mm以上的应用；跟XUL类似。可选 用自动测量的可编程工作台。PC标准11（Φ0.3）是XDLM比XDL适用面更广，配备微聚焦管，4个可切换的准直器和3个基本滤片。测量头与XULM想似；适合于测量小的结构如接插件触点或印刷线路板，也可以测量大的工作（DCM,范围0-80mm）PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XDAL与XDLM类似但配备了半导体接收器。这样就可能可以分析元素和测量超薄层（基于良好的信噪比）。比较适合测量结构较大的样品。PIN微聚焦34（Φ0.1-Φ0.6）是XDC-SDD适合于全部应用的高端机型。根据测量点大小和光谱组成，激发方式灵活多样。配备了硅漂移接收器，即使强度高达100kcps的信号也可以在不损失分辨率的情况下处理。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ0.3）否SDV-U专用微观分析的测量仪器。根据X射线光学部件的不同，可以分析小到100um或更小的结构。强度很高所以精度也非常好。即使很薄的镀层，测量不确定性小于1nm也是可能的。仅适于测量表面平整或接近平整的样品。SDD微聚焦4多毛细管系统是XDV-Vacuum具备综合测量能力的通用高端机型。与XDV-XDD相当。但可外配备了可抽真空的测量室，这样就使得分析从原子序数Z=11(Na)开始的轻元素成为可能。高精度的马达驱动的XYZ平台和视频摄像头可以精确定位样品位置和测量细小部件。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ3）否在线测量X-RAY 4000用于生产过程中薄膜，金属带或穿孔带的连续测量。测量头可以装配与样品传送方向的直角的位置。操作方便，启动迅速。数据接口可集成到质量管理或控制系统X-RAY54000用于生产线上连续测量的法兰式测量头。测量带状物，薄膜或玻璃的金属元素。在空气和真空都可以测量。提供水冷版本仪器。 X射线荧光镀层测厚仪，涂层镀层测厚仪用途：由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统，因而应用广泛 在电子和半导体产业里，测量触点上薄金，铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中，精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中，需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中，光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中，则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者，检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》（ROHS指令）也是十分关键的。在玩具工业中，也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用，菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。 X射线荧光镀层测厚仪，涂层镀层测厚仪用途领域:1、钟表，首饰，眼镜 2、汽车及紧固件 3、卫浴五金4、连接器5、化学药水6、通信7、半导体封装测试8、电子元器件 9、PCB（线路板）